箔片厚度均勻性測試儀

箔片厚度均勻性測試儀

適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。

主要特點(diǎn)

接觸式測量原理

進(jìn)口測厚傳感器

觸摸屏操作

扁平化人機(jī)交互界面顯示

真彩色液晶顯示試驗(yàn)數(shù)據(jù)、結(jié)果

手動、循環(huán)、預(yù)約定時(shí)多種測量模式

測試過程全自動完成

內(nèi)嵌多種數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能

本機(jī)內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能

配置微型打印機(jī)，可自動打印單次、統(tǒng)計(jì)報(bào)告

配置標(biāo)準(zhǔn)通信接口

可支持DSM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購）

技術(shù)指標(biāo)

測量范圍：0～2mm（標(biāo)配）

                   0～10mm（可選）

分 辨 率：0.1μm

測量速度：1~25次/min（可調(diào)）

測 量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標(biāo)配）

紙張：200mm2，50±1kPa（可選）         

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

產(chǎn)品配置

標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、薄膜測量頭、微型打印機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件

選 購 件：紙張測量頭、自動進(jìn)樣裝置、配套軟件、通信電纜、標(biāo)準(zhǔn)量塊、DSM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)

其他產(chǎn)品

阻隔性：透氧儀、透濕儀、透氣儀、水蒸氣透過率測試儀、超高壓氣體透過率測試儀、分離膜測試儀、電池隔膜透氣度儀

常規(guī)物理性：包裝拉力試驗(yàn)機(jī)、高精度剝離力測試儀、動靜摩擦系數(shù)儀、熱封試驗(yàn)儀、熱封強(qiáng)度測試儀、薄膜沖擊試驗(yàn)儀、密封試驗(yàn)儀、高精度薄膜測厚儀、扭矩儀、包裝性能測試儀、卡式瓶滑動性測試儀、電化鋁剝離試驗(yàn)儀、離型紙剝離儀、泄漏強(qiáng)度測試儀、彈性模量測試儀等

注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權(quán)與解釋權(quán)！