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高分辨率三維X射線檢測(cè)系統(tǒng) 激光粒度儀

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng)安賽斯（中國(guó)）有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/9/11 9:41:17
訪問(wèn)次數(shù)884

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

安賽斯（ANALYSIS）公司是專(zhuān)業(yè)從事分析儀器銷(xiāo)售、測(cè)試服務(wù)、以及*材料制造的綜合服務(wù)商。公司總部位于香港繁華的中環(huán)中心商務(wù)區(qū)。安賽斯（北京）科技有限公司具有中華人民共和國(guó)A類(lèi)資質(zhì)的進(jìn)出口企業(yè)，是國(guó)家納稅誠(chéng)信單位。公司始終堅(jiān)持“誠(chéng)信、專(zhuān)業(yè)”的發(fā)展理念，用視角，引入*的技術(shù)與產(chǎn)品，為國(guó)內(nèi)用戶(hù)提供本地化的專(zhuān)業(yè)服務(wù)。安賽斯公司憑借豐富的現(xiàn)貨庫(kù)存、龐大的營(yíng)銷(xiāo)網(wǎng)絡(luò)和專(zhuān)業(yè)的服務(wù)經(jīng)驗(yàn)，在多年行業(yè)服務(wù)的基礎(chǔ)上，為廣大用戶(hù)提供分析測(cè)試儀器和配套技術(shù)服務(wù)；同時(shí)依托產(chǎn)品的技術(shù)優(yōu)勢(shì)和性能，集合了自身的研發(fā)、系統(tǒng)集成優(yōu)勢(shì)，針對(duì)客戶(hù)的測(cè)試需求提供個(gè)性化的應(yīng)用解決方案?！　」镜目蛻?hù)涉及高等院校、科研院所、航空航天、微電子、新能源、生物醫(yī)藥、節(jié)能環(huán)保等行業(yè)和領(lǐng)域。擁有具備豐富知識(shí)和專(zhuān)業(yè)經(jīng)驗(yàn)的技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì)，致力于更好的為行業(yè)客戶(hù)提供專(zhuān)業(yè)、便捷的本地化服務(wù)。安賽斯公司將始終以為客戶(hù)提供"更豐富的產(chǎn)品選擇，更經(jīng)濟(jì)的解決方案，更全面的專(zhuān)業(yè)服務(wù)"為使命，用的技術(shù)與專(zhuān)業(yè)的服務(wù)為客戶(hù)提供的支持，和客戶(hù)同成長(zhǎng)、共輝煌。

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適用于全自動(dòng)檢查IC包裝缺陷的高分辨率三維X射線檢測(cè)系由于晶片、基板、帶材上或最終產(chǎn)品的組件中存在缺陷，因而在半導(dǎo)體制造中，需借助自動(dòng)化、高質(zhì)量、可靠、快速的無(wú)損檢測(cè)和分析來(lái)實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)

高分辨率三維X射線檢測(cè)系統(tǒng) 激光粒度儀產(chǎn)品信息

適用于全自動(dòng)檢查IC包裝缺陷的高分辨率三維X射線檢測(cè)系

由于晶片、基板、帶材上或最終產(chǎn)品的組件中存在缺陷，因而在半導(dǎo)體制造中，需借助自動(dòng)化、高質(zhì)量、可靠、快速的無(wú)損檢測(cè)和分析來(lái)實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)。新型X射線檢測(cè)系統(tǒng)Y. FF65 CL專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于對(duì)三維集成電路、微機(jī)電系統(tǒng)和傳感器中最小和的功能進(jìn)行自動(dòng)分析。結(jié)果：測(cè)試和檢測(cè)非常精確且可重復(fù)，性能出色。

l 高速3D AXI為半導(dǎo)體工藝管理帶來(lái)變革。
l 精確測(cè)量三維集成電路封裝、MEMS和傳感器缺陷尺寸
l 可靠并且可重復(fù)的工序條件檢測(cè)和缺陷參數(shù)設(shè)置
l 的全自動(dòng)晶片處理和測(cè)試流程，操作簡(jiǎn)單方便

系統(tǒng)能力
適用于大容量、自動(dòng)化、可靠半導(dǎo)體聯(lián)合分析的解決方案

FF65 CL具有較大的檢測(cè)面積，即，510 x 610mm，檢測(cè)深度小于300nm，非常適合對(duì)三維集成電路、倒裝芯片和晶片中的焊接凸點(diǎn)和填充過(guò)孔進(jìn)行自動(dòng)、無(wú)損分析。

系統(tǒng)操作臺(tái)的創(chuàng)新真空機(jī)制在分析過(guò)程中能夠安全、精確地保持樣品，并抵消樣品翹曲的影響。

FF65 CL提供二維（自上而下）高性能平板和三維（CL-計(jì)算機(jī)分層攝影）自動(dòng)分析，使用高分辨率圖像增強(qiáng)器在特殊操作組件內(nèi)進(jìn)行傾斜旋轉(zhuǎn)。

一代的納米焦點(diǎn)X射線管可生成能顯示和測(cè)量最小空隙和功能的二維和三維圖像，使FF65 CL能夠分析的半導(dǎo)體難題。

圖形用戶(hù)界面（GUI）便于使用且直觀，允許用戶(hù)輕松創(chuàng)建自動(dòng)化、多點(diǎn)和多功能分析檢測(cè)程序。

自動(dòng)、連續(xù)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)各個(gè)方面的背景校準(zhǔn)測(cè)試，可以確保隨時(shí)間變化的測(cè)量重復(fù)性。

半導(dǎo)體生產(chǎn)的特點(diǎn)改善質(zhì)量監(jiān)測(cè)，以更高的分辨率檢測(cè)更多的位置，從而識(shí)別可能遺漏的故障。通過(guò)更佳的測(cè)試覆蓋率顯著降低成本，從而提高產(chǎn)量，可隨時(shí)對(duì)工藝和缺陷參數(shù)的一致性進(jìn)行可靠和可重復(fù)檢查該創(chuàng)新自動(dòng)化分析解決方案易于使用，優(yōu)化了操作成本。

系統(tǒng)屬性一覽：
l 可執(zhí)行自動(dòng)化高通量分析，重復(fù)性良好且結(jié)果可靠
l 可簡(jiǎn)單創(chuàng)建自動(dòng)化、多點(diǎn)和多功能分析檢測(cè)程序，允許樣品和測(cè)量任務(wù)之間的快速變化
l 可執(zhí)行持續(xù)背景監(jiān)測(cè)和優(yōu)化，確保測(cè)量重復(fù)性和準(zhǔn)確性
l 可執(zhí)行快速和精度可重復(fù)的所有測(cè)量

技術(shù)數(shù)據(jù)
Attribute
Respective Value
Sample Diameters
795 [mm] (30.1")
Sample Height
20 [mm] (0.7")
Maximum Sample Weight
2 [kg]
System Dimensions
1760 x 2000 x 2000 [mm]
CT Modes
Super-high resolution Computed Laminography (CL)
Manipulation
Super-precise manipulator, active anti-vibration system, highest reliability

Attribute	Respective Value
Sample Diameters	795 [mm] (30.1")
Sample Height	20 [mm] (0.7")
Maximum Sample Weight	2 [kg]
System Dimensions	1760 x 2000 x 2000 [mm]
CT Modes	Super-high resolution Computed Laminography (CL)
Manipulation	Super-precise manipulator, active anti-vibration system, highest reliability