RLE-RI03 光學(xué)薄膜測量綜合實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)簡介
光纖芯徑:200μm;數(shù)值孔徑:0.22NA;長度:2m長;鎧甲護(hù)套;SMA905接頭。
6.光纖準(zhǔn)直鏡:
適用波段:200~2500nm,Φ6mm通光口徑,SMA905接口,焦長12.7mm,帶微調(diào);
7.光纖跳線:
光纖芯徑:400μm;數(shù)值孔徑:0.22NA;長度:100±10cm;3mm鎧甲護(hù)套;SMA905接頭。
8.軟件:
8-1薄膜測厚軟件:包含光譜預(yù)處理方法、回歸算法、擬合算法、傅立葉變換信號處理算法、最小二乘算法,分步測量引導(dǎo),薄膜測量厚度范圍50nm~50μm。
8-2鍍膜仿真與設(shè)計(jì)軟件組件
1)主界面4大功能分區(qū),包括單層膜、減反射膜、介質(zhì)高反膜和濾光片;
2)均可設(shè)置基底、介質(zhì)和介質(zhì)折射率,改變參數(shù),反射率透過率曲線實(shí)時更新。
9.實(shí)驗(yàn)手冊及保修卡。