JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀
- JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更*的一體化集成FE-EPMA。
產(chǎn)品規(guī)格：
檢測元素范圍： WDS: Be＊1 / B to U, EDS: Be to U |
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檢測X-ray 范圍： 波長范圍WDS: 0.087 to 9.3 nm 能量范圍EDS: 20 keV |
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譜儀數(shù)：WDS: 最多5個可選, EDS: 1個 |
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樣品尺寸：100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
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加速電壓：1 to 30 kV (0.1 kV steps) |
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探針電流范圍：1 pA to 3 μA |
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探針電流穩(wěn)定性：± 0.3％ / h, ± 1.0％ /12 h＊2 | |
二次電子像分辨率（觀察模式）：2.5 nm |
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二次電子像分辨率（分析模式下）： 20 nm（ 10 kV, 10 nA） 50 nm（ 10 kV, 100 nA） | |
掃描放大倍率：×40 to 300,000 (W.D. 11 mm) |
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掃描圖像分辨率：Maxium 5,120 × 3,840 |
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產(chǎn)品特點：
電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域，作為研究開發(fā)和*的分析工具被廣泛使用，其用途越來越廣。此外，在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ，地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻。與此相應(yīng)，在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。JXA-iHP200F能更加有效地進行觀察分析操作，是更*的一體化集成場發(fā)射EPMA。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱
◇ [Setting]
自動定位，準確安裝樣品臺！迅速找到想觀察的點！
進樣和獲取樣品臺導(dǎo)航像一鍵完成。從導(dǎo)航像能夠分析區(qū)域。
◇ [Analysis]
充分的自動功能，誰都可以拍到高級的SEM像
繁瑣的設(shè)定也能對應(yīng)，EPMA立馬進行元素分析
光學(xué)顯微鏡的自動聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動功能相結(jié)合，任誰都可以拍到高級的SEM像。
【live Analysis】
通過【live Analysis】能夠在觀察中進行篩選分析。初學(xué)者也能操作的【簡單的EPMA】。
用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上能夠進行EPMA的條件設(shè)定。用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時間。SEM、EDS、XRF、WDS、光學(xué)像的集成一體化提高了儀器的操作性能。
通過WD/ED integration，分析時間縮短的例子
integration：用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設(shè)定分光晶體的組合
◇ [Self Maintenance]
內(nèi)置18種類校正樣品，有效進行校正
配置【分光器校正功能】減輕了定期進行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設(shè)定時的人為失誤；利用夜間對儀器進行校正，提高了工作效率。
按照【維護通知功能】，在必要時期對儀器進行自我維護，保持設(shè)備狀態(tài)。
維護通知功能【客戶支持工具】
◇ 標配場發(fā)射電子槍
能夠在高倍率下獲得高空間分辨率的SEM像和分析結(jié)果。在大電流下保持長時間穩(wěn)定的熱電子槍在短時間內(nèi)分析微量元素的時候、整夜運行分析大量樣品的時候顯示出它的威力。
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