產(chǎn)品信息:
在實際的科研中,由于樣品/晶圓(Wafer)得尺寸越來越大,用于測試的探針臺相當(dāng)昂貴,我司根據(jù)客戶市場應(yīng)用自主研發(fā)的這款結(jié)構(gòu)小巧,功能實用,成本較低得TDH系列探針臺,在滿足基本測試功能基礎(chǔ)上,去除了非必要得部件,該探針臺系統(tǒng)包含:光學(xué)成像部分,光學(xué)底座,探針座,四維調(diào)整系統(tǒng),真空吸附系統(tǒng);
TDH系列探針臺包含有獨立的三個精密探針座,可以配合數(shù)字源表等完成對三端器件的測試,其可以測試的材料有二極管、晶體管、場效應(yīng)管、晶圓級器件等等,可以完成對其的I/V、c/v、電阻、電容等參數(shù)進行測試。
產(chǎn)品特點:
★結(jié)構(gòu)緊湊,功能實用,質(zhì)量輕巧,方便移動
★可用于12寸以內(nèi)樣品測試
★兼容高倍率電子顯微鏡,可360°旋轉(zhuǎn)和微調(diào)升降
★漏電流精度:10pA/50fa(屏蔽箱內(nèi))
★精密絲杠/燕尾傳動結(jié)構(gòu),線性移動,精密位移,無回程差設(shè)計
★應(yīng)用于高等院校/研究所/公司實驗室使用
★1微米以上電極/PAD使用
★模塊化設(shè)計,可以根據(jù)應(yīng)用增加和去除相應(yīng)模塊
產(chǎn)品應(yīng)用:
◆LD/LED/PD的光強/波長測試(集成我司光電儀器)
◆材料/器件的IV/CV等特性分析測試
◆晶圓分析測試
技術(shù)參數(shù)選型:
規(guī)格/參數(shù) | |||||||
型號 | TDH-4 | TDH-6 | TDH-8 | TDH-12 | |||
外形尺寸(LWH) | 450×300×355mm | 600×450×355mm | 600×500×355mm | 600×600×355mm | |||
電力需求 | 220VC,50-60HZ | ||||||
樣品臺 | 尺寸 | 4寸 | 6寸 | 8寸 | 12寸 | ||
行程 | 整體XYZR四維位移,XY行程100mm,Z軸行程13mm,R軸360°旋轉(zhuǎn)可鎖緊 | ||||||
移動精度 | 3μm | ||||||
背電極測試功能 | 可以引出電極 | 可以引出電極 | 可以引出電極 | 可以引出電極 | |||
定制模塊 | 可定制位移行程和精度 | ||||||
探針調(diào)整座 | XYZ行程 | 13mm-13mm-13mm | |||||
機械精度 | 標(biāo)配3μm(可以升級/1μm) | ||||||
漏電精度 | 100fA(配置屏蔽箱) | ||||||
安裝方式 | 可調(diào)磁力吸附/真空吸附 | ||||||
接口形式 | 三同軸(Triax) | ||||||
光學(xué)成像 | 放大倍數(shù) | 7-200倍(可升級到720倍) | |||||
CCD像素 | 2000W | ||||||
中心距離 | 140mm,升降范圍270mm,總高度350mm | ||||||
顯示器 | 12寸顯示器,將3-17mm的樣品放大到整個屏幕(可升級大尺寸顯微鏡) | ||||||
可選附件 | 加熱卡盤 | 高低溫卡盤 | 鍍金卡盤 | ||||
隔振支架 | 積分球測試選件 | 屏蔽箱 | |||||
射頻測試附件 | 導(dǎo)入光源支架 | 波長單色可調(diào)光纖光源(測光電流) | |||||
顯微鏡調(diào)節(jié)手動/電動調(diào)節(jié)裝置 | 激光切割顯微鏡 | 轉(zhuǎn)接頭配件 | |||||
創(chuàng)譜儀器可以根據(jù)客戶應(yīng)用搭建探針臺,以達到更好的使用效果和性價比 |