賽默飛 ARL QUANTX能量色散X射線熒光能譜儀

賽默飛 ARL QUANTX能量色散X射線熒光能譜儀主要特點：
具有廣泛的應用如:ROHS-WEEE電子廢棄物中重元素分析,各種合金及貴金屬成分分析,環(huán)境污染氣溶膠的測度, 考古文物保護,刑偵痕量分析,營養(yǎng)品分析,磁性介質和半導體的薄膜渡層厚度分析,各種油品中成分分析,納米至微米鍍層厚度測量,土壤,催化劑,礦石,原材料等.
賽默飛 ARL QUANTX能量色散X射線熒光能譜儀用于材料的無損分析可選擇液氮致冷或電致冷Si(Li) 探測器 從氟至鈾的多元素分析測定的濃度范圍一般可以從ppm級至 技術參數(shù)Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光譜儀提供出色的痕量分析靈敏度，打破了1納米的檢測限瓶頸。
專為滿足實驗室和制造環(huán)境中挑戰(zhàn)性的分析需求而設計，ARL QUANTX EDXRF 光譜儀的功能和靈活性可zui大程度提高各種元素分析應用的分析量。
能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術可通過簡易的樣品制備，實現(xiàn)主量、次量和痕量元素分析，所分析樣品范圍廣泛，可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。
*的技術
*的 Peltier 電制冷 Si (Li) 檢測器
數(shù)字脈沖處理 (DPP) 技術
高性能、多元素分析
主要功能
出色的痕量分析靈敏度
高分析量的進程控制
適用于異常材料的高級分析算法
出色的樣品處理靈活性
機械簡化和靈活性
占地面積小、易于運輸以進行野外測量
快速、簡易的安裝以及可*現(xiàn)場定制
隨附完整的實驗室啟用套件
經驗證的硬件和全套軟件
現(xiàn)場、協(xié)同方法開發(fā)
完整的技術應用支持
匯集了數(shù)百種應用的專業(yè)知識
功能強大、易于使用的 WinTrace*軟件
無標和半無標分析
基本參數(shù) (FP) 和基于標樣的經驗方法
多層厚度及成分
不限元素、不限數(shù)量的標樣
利用自動化操作實現(xiàn)多個激發(fā)條件
可用于：
懸浮顆粒物過濾器
符合 RoHS 及 WEEE 的分析
法醫(yī)及痕量分析
營養(yǎng)補充劑
磁性介質和半導體
土壤污染
過濾器上的薄膜
塑料中的有毒元素