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EDX-8000 MAX SDD貴金屬分析儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2022/4/30 13:54:38
  • 訪問(wèn)次數(shù)328
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司,坐落于美麗而現(xiàn)代的蘇州工業(yè)園。公司專注于X射線熒光光譜儀的研發(fā),生產(chǎn)和應(yīng)用?;诙嗄甑募夹g(shù)積累和沉淀,英飛思擁有整套XRF光譜儀的原生態(tài)研發(fā)和制造技術(shù),包括50瓦,100瓦高壓發(fā)生裝置,50瓦光管的封裝工藝,數(shù)字多道分析(DPP),控制電路板的設(shè)計(jì)和研發(fā),基本參數(shù)法(FP)軟件著作權(quán)等。我們不僅能提供整套光譜儀定制服務(wù),而且能夠提供專業(yè)而系統(tǒng)的元素成分分析解決方案,以滿足客戶日益嚴(yán)苛而高標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試需求。
x熒光分析儀
EDX-8000 MAX SDD貴金屬分析儀
EDX-8000 MAX SDD貴金屬分析儀 產(chǎn)品信息

EDX-8000 Max

SDD貴金屬珠寶檢測(cè)儀

黃金檢測(cè)專家



Simply the Best

>高計(jì)數(shù)率高分辨率SDD檢測(cè)器

>超大樣品腔

>ppm級(jí)別測(cè)試精度,準(zhǔn)確測(cè)定金和所有貴金屬(銀,鉑,鈀,銠,銥和釕)的含量

>10秒出結(jié)果

>非破壞性分析可保護(hù)貴重珠寶,古董和收藏品

>一鍵測(cè)試,快速上手

>可拓展應(yīng)用方案---鍍層和電鍍液分析


EDX8000 Max- 配置Amptek- SDD探測(cè)器


隨著貴金屬價(jià)格的每日變化,測(cè)試中的微小誤差會(huì)嚴(yán)重影響您的利潤(rùn)。鍍金和物品只是珠寶商,黃金交易商和當(dāng)鋪所有者每天面臨的一些挑戰(zhàn)。企業(yè)需要準(zhǔn)確的結(jié)果來(lái)消除確定項(xiàng)目?jī)r(jià)值的可變性和主觀性,以確保交易可獲利。

EDX-8000 Max, 不僅配備了市面上SDD檢測(cè)器,而且超大樣品腔也能滿足各種大尺寸樣品測(cè)試,而無(wú)需分解或者破壞樣品。8000Max的特點(diǎn)使其成為黃金及珠寶檢測(cè)的選擇。


應(yīng)用行業(yè):

  • 貴金屬及合金的成分分析

  • 黃金K值快速鑒定(4k-24K)

  • 千足金萬(wàn)足金快速區(qū)分

  • 黃金珠寶,鐘表和硬幣的真?zhèn)螠y(cè)試

  • 牙科合金分析

  • 鍍層厚度分析

  • 電鍍液金屬元素含量分析

產(chǎn)品特點(diǎn) :

?更快---由于單位時(shí)間內(nèi)可以獲得更高樣品信號(hào)通量,使得測(cè)量時(shí)間大幅減少。60秒即可達(dá)到普通儀器120秒的測(cè)量效果

?更準(zhǔn)---*的多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)超過(guò)100,000 cps的線性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證的光譜分辨率,通常優(yōu)于130 eV(普通Si-pin探測(cè)器為160eV),以更好地分離不同元素的光譜。

?更穩(wěn)---使用超大面積25 mm2鈹窗SDD檢測(cè)器(普通Si-pin檢測(cè)器6mm2),該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得2-3倍于普通檢測(cè)器的光譜強(qiáng)度(計(jì)數(shù)率CPS),從而得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性。與傳統(tǒng)的Si-pin版本臺(tái)式儀器相比,EDX8000 Max光譜儀可以全功率運(yùn)行,因此實(shí)現(xiàn)了更為穩(wěn)定和可靠的測(cè)試表現(xiàn)


圖1-1橙色為EDX-8000 Max光譜,藍(lán)色為普通Si-pin儀器譜圖



黃金珠寶首飾檢測(cè)專家EDX8000 Max

>儀器參數(shù)

儀器外觀尺寸: 500mm*495mm*390mm

樣品腔:410mm*330mm*140mm

儀器重量: 45 kg

元素分析范圍:S16-U92硫到鈾

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

探測(cè)器:AmpTek 高分辨率電制冷硅檢測(cè)器SDD,可升級(jí)Fast SDD

多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器

X光管:50W高功率鈹窗光管

高壓發(fā)生裝置:電壓輸出50kV,自帶電壓過(guò)載保護(hù)

電壓:220ACV 50/60HZ

環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C


儀器配置

>標(biāo)準(zhǔn)配置

>可選配置

純Au初始化標(biāo)樣

交流凈化穩(wěn)壓電源

戒指樣品夾

黃金標(biāo)樣

USB數(shù)據(jù)線


電源線


測(cè)試薄膜


儀器出廠和標(biāo)定報(bào)告


保修卡




60秒9k黃金(37.4%含金量)重復(fù)性測(cè)試結(jié)果

    測(cè)量次數(shù)

Au(%)金

Ag(%)銀

Cu(%)銅

1

37.42

25.58

36.99

2

37.39

25.62

36.98

3

37.41

25.56

37.01

4

37.42

25.61

36.96

5

37.43

25.61

36.95

6

37.42

25.61

36.96

7

37.42

25.61

36.97

8

37.42

25.59

36.98

9

37.42

25.59

36.98

10

37.42

25.60

36.97

SD標(biāo)準(zhǔn)偏差

0.01(%)

0.02(%)

0.02(%)

RSD相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差

0.03(%)

0.08(%)

0.05(%)

Average測(cè)試平均值

37.42(%)

25.60(%)

36.97(%)

Certified Value標(biāo)準(zhǔn)含量

37.40(%)

25.63(%)

36.96(%)







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