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X射線熒光分析儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號MESA-50
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2023/12/28 13:34:47
  • 訪問次數(shù)1062
產(chǎn)品標(biāo)簽:

熒光光譜儀X射線熒光分析儀

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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì),為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品:

 

 · 1900年 世博會上的干涉儀、光彈性測量儀      
 · 1962年 雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計算機(jī)全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎)      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計算機(jī)化光子計數(shù)拉曼光譜儀和全計算機(jī)化光子計數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復(fù)用器    
 · 1989年 超級校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎    
 · 1998年 可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎)    
 · 1998-1996年 收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎  
 · 2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室頒發(fā)“運(yùn)行碳觀測器(OCO)衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎”

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HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司,完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家?,F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學(xué)光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障!

 

 

 

科學(xué)儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設(shè)備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
行業(yè)專用類型 電子產(chǎn)品 重復(fù)性 0.05%
能量分辨率 小于140eV 分析含量范圍 1ppm-99.99%
元素分析范圍 Al(13)-U(92) 儀器種類 臺式/落地式能量色散型X熒光光譜、XRF
HORIBA MESA-50 X射線熒光分析儀:多年以來,HORIBA銷售的EDXRF分析儀和XGT-WR系列為客戶提供RoHS,ELV和無鹵檢測,對含有害元素如Pb,Cd,Hg,Br等的樣品進(jìn)行篩選式測量,在世界范圍內(nèi)廣泛日常使用。
X射線熒光分析儀 產(chǎn)品信息

HORIBA MESA-50 X射線熒光分析儀

多年以來,HORIBA銷售的EDXRF分析儀和XGT-WR系列為客戶提供RoHS,ELV和無鹵檢測,對含有害元素如Pb,Cd,Hg,Br等的樣品進(jìn)行篩選式測量,在世界范圍內(nèi)廣泛日常使用。
基于大量客戶的要求,HORIBA以長期的經(jīng)驗(yàn)開發(fā)出全新的EDXRF分析裝置MESA-50.
MESA-50將為您提供友好的操作界面和優(yōu)異的使用性能。
MESA具有三種尺寸的準(zhǔn)直器可用于各種大小的樣品,從細(xì)長的電線、微小的電子器件到大型的樣品。
結(jié)合SDD檢測器和HORIBA的DPP處理器,MESA將為您帶來EDXRF的全新體驗(yàn)。MESA-50是HORIBA全新的生態(tài)采購支持儀器,不僅適合于歐洲的RoHS,ELV,也適用于其他地區(qū)的各種法規(guī)。

HORIBA MESA-50 X射線熒光分析儀

4S技術(shù)
Speedy:硅漂移檢測器大幅度減少了測量時間,在高通量的同時提供了更高的靈敏度。
Small:便攜式,體積小,重量輕小巧 尺寸225(長)* 210(寬)*40(高),重量12千克。內(nèi)置電池可持續(xù)測量6小時,無需擔(dān)心X射線泄漏。
Simple:減少日常維護(hù)工作(無需液氮),無需真空泵,各種材料測量直觀簡單。
Smart:中英文操作軟件,智能 Excel數(shù)據(jù)管理工具。

 

 

關(guān)鍵詞:真空泵
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