M4型全譜直讀光譜儀
M系列全譜直讀光譜儀采用國際標準的設計和制造工藝技術,全數(shù)字化及互聯(lián)網(wǎng)技術結合,運用高分辯率CMOS檢測器,精密設計的氬氣吹掃系統(tǒng),使儀器的性能
M4應用于多基體的、高性能的全譜直讀光譜儀
01 其優(yōu)異的分析性能、非常緊湊的儀器結構
02 用于多種基體、多種材料的分析,分析范圍覆蓋了幾乎所有的重要元素,可以滿足絕大多數(shù)現(xiàn)代鑄造業(yè)的應用需求。
03 高亮度全息光柵具備3600條/mm刻線,使得分光系統(tǒng)具有的分辯率。
04 氬氣吹掃光室配置了優(yōu)化設計的低流速吹氬系統(tǒng),既保證的使用成本又保證紫外區(qū)的透過率。
05 應用高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng),更低的暗電流、更好的檢出限、更高的穩(wěn)定性、更強的靈敏度。
06 全數(shù)字化的智能復合光源DDD技術,充分滿足不同基體、不同樣品以及不同元素的激發(fā)要求。
07 一體式開放火花臺,可以滿足各種不同樣品結構的分析。
08 配置多條工廠校正曲線及更多的材料分析方法和*的解決方案。
09 可根據(jù)用戶的材料要求,延長標準曲線的測量上、下限。
精密設計的氬氣吹掃系統(tǒng)
光室密封性強,可保持內部氬氣長期純凈。
光室空間優(yōu)化設計,降低氬氣消耗,有效節(jié)約產(chǎn)生成本。
低氬氣吹掃系統(tǒng),確保光室UV波段測量環(huán)境。
光室充氬免除復雜的真空系統(tǒng)。
高分辯率CMOS檢測器實現(xiàn)全譜分析
譜線覆蓋了所有的重要元素,滿足所有基體和材料的分析。
高靈敏的紫外區(qū)檢測,對N的分析檢測更準確。
可有效選擇元素靈敏線,保證分析的準確度。
多峰擬合技術,有效消除譜線干擾,實現(xiàn)精準測量。
分析軟件功能強大
1)基于Windows系統(tǒng)的多國語言的CCD全譜圖形化分析軟件,方便實用;
2)管理的控制整個測量過程及為用戶提供強大的數(shù)據(jù)處理能力和測試報告輸出能力;
3)儀器可配置多條工廠校正曲線及更多材質分析及*解決方案;
4)軟件實現(xiàn)全譜檢測、智能扣干擾、扣暗電流、背景和噪聲的算法,提高儀器的分析能力;
5)完備的自動系統(tǒng)診斷功能;
6)完善的數(shù)據(jù)庫管理功能,可方便查詢、匯總數(shù)據(jù);
7)智能校正算法,保證儀器穩(wěn)定可靠;
8)完備的譜線信息和干擾扣除算法,保證儀器分析更為精準;
9)適應新的Windows操作系統(tǒng)。
主要技術參數(shù)
項目 | M2 | M4 |
檢測基體 | 單基體 | 多基體 |
光學系統(tǒng) | 帕型-龍格結構 | 帕型-龍格結構 |
光室結構 | 充氬方式 | 充氬循環(huán)方式 |
波長范圍 | 165-580nm | 165-580nm(可擴展) |
光柵焦距 | 150mm | 300mm |
光柵刻線 | 3600條/mm | 3600條/mm |
探 測 器 | 多CMOS檢測器 | 多CMOS檢測器 |
光源類型 | 可編程脈沖數(shù)字光源 | 可編程脈沖數(shù)字光源 |
儀器尺寸 | 643*450*270 | 714*558*270 |
儀器重量 | 30Kg | 40Kg |
應用領域:冶金、鑄造、機械、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空、核電、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析。