儀器介紹:
JT-607C鍍層測厚儀是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度的鍍層測厚儀,C型開槽設(shè)計樣品腔,讓其滿足了既可測量超微小樣品的檢測,同時還可滿足超過樣品腔尺寸的大工件測量。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。是一款擁有多種準(zhǔn)直器(0.05mm、0.1mm、0.2mm、0.5mm)自動切換的高精密度X射線熒光光譜測厚儀。適合小面積電鍍層、重復(fù)鍍層、凹凸不平樣品測試。
儀器特點:
1)搭載微聚焦加強型X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng),可測量各微小的部件
最小測量面積達0. 002mm2
2) 擁有無損變焦檢測技術(shù),手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm
3) 核心EFP算法,可對多層元素,包括同種元素在不同層都可快·準(zhǔn)·穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析(釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準(zhǔn)檢測層Ni和第三層Ni的厚度)
4) 配備高精密微型移動滑軌,可實現(xiàn)多點位,多樣品的精準(zhǔn)位移和同時檢測
5) 可同時分析23個鍍層,24中元素,測量元素范圍:氯CL (17) ---鈾U (92),涂鍍層分析范圍:氯CL (17)/鋰Li---鈾U (92),涂鍍層檢出限:0.005μm
6) 人性化封閉軟件,自動判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作
7) 標(biāo)配為兩個準(zhǔn)直器任意選擇一種,最小測量面積可達0.002mm2
8) 配有微光聚焦技術(shù),最近測距光斑擴散度小于10%
相關(guān)產(chǎn)品:
二次元影像儀 2.5次元影像儀 一鍵式測量儀 玻璃測厚儀 光譜儀