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Lambdafire™創(chuàng)新性軟件解決方案

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公司名稱北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2023/3/7 12:03:29
訪問次數(shù)212

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公司介紹主營產(chǎn)品

    北京冠普佳科技有限公司是一家經(jīng)營科學(xué)儀器的綜合性專業(yè)公司，代理國內(nèi)、國外專業(yè)生產(chǎn)廠家的*的高科技產(chǎn)品。公司經(jīng)營的主要產(chǎn)品有：重慶奧特OPTEC顯微鏡，尼康NIKON顯微鏡，德國MMM箱體，凝膠成像系統(tǒng)，專業(yè)成像分析、采集系統(tǒng)及其他各種國內(nèi)外儀器設(shè)備

        北京冠普佳科技有限公司是重慶奧特OPTEC特別*的工業(yè)顯微鏡北京總代理，負(fù)責(zé)奧特OPTEC顯微鏡系列產(chǎn)品以及各種相關(guān)設(shè)備的銷售與服務(wù)業(yè)務(wù)。公司提供全面、優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室全套解決方案：我們不僅提供售前技術(shù)咨詢和快速供貨服務(wù)，同時(shí)還提供包括安裝調(diào)試、使用指導(dǎo)、應(yīng)用指導(dǎo)、維護(hù)保養(yǎng)在內(nèi)的整套售后服務(wù)。

        北京冠普佳科技有限公司擁有一批專業(yè)的銷售隊(duì)伍，能為廣大客戶提供包括技術(shù)咨詢、產(chǎn)品選配、培訓(xùn)和維護(hù)的專業(yè)服務(wù)，擁有一批專業(yè)化的技術(shù)、維修服務(wù)人才。本著“*的產(chǎn)品，*的質(zhì)量，*的服務(wù)”精神，為您提供即時(shí)、細(xì)致、完善的服務(wù)，北京冠普佳科技有限公司必將成為您Z信賴的伙伴！

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Lambdafire™是一款軟件系統(tǒng)，能夠控制CRAIC顯微分光光度計(jì)和分析數(shù)據(jù)

Lambdafire™創(chuàng)新性軟件解決方案產(chǎn)品信息

Lambdafire™是一款軟件系統(tǒng)，能夠控制CRAIC顯微分光光度計(jì)和分析數(shù)據(jù)。 Lambdafire™能夠?qū)崿F(xiàn)儀器的控制以及成像和強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析處理，同時(shí)多功能的插件模塊能夠?qū)崿F(xiàn)更多的軟件功能，如自動(dòng)化控制、光譜三維繪圖、薄膜厚度測量等多種功能。

CRAIC的Lambdafire™軟件系統(tǒng)，能夠使CRAIC顯微分光光度計(jì)用戶實(shí)現(xiàn)儀器控制、光譜獲得、成像以及光譜和圖像的分析。

Lambdafire™軟件系統(tǒng)不僅能使您對(duì)CRAIC顯微分光光度計(jì)實(shí)現(xiàn)控制，同時(shí)能夠通過對(duì)樣品進(jìn)行透射、吸收、反射、偏振、熒光和拉曼譜儀檢測，獲得高品質(zhì)的光譜信息和圖像，并能和詳盡的進(jìn)行數(shù)據(jù)和圖像分析處理，特別是配有自定義的觸屏式圖像處理界面操作。Lambdafire™能夠提供手動(dòng)或者全自動(dòng)化的儀器控制。

Lambdafire™軟件包:
◆一個(gè)易于使用的顯微分光光度計(jì)控制和分析的軟件模塊
◆顯微分光度計(jì)自動(dòng)化控制盒編程
◆擁有許多設(shè)計(jì)，支持科研和生產(chǎn)
◆ 圖像和光譜的分析處理
◆多種插件模塊可選，如5D Spectal Mapping™、薄膜厚度、比色分析等
◆觸摸屏設(shè)計(jì)和易于操作的顯微光譜分析

CRAIC FilmPro™薄膜厚度

CRAIC FilmPro™能夠通過反射率或透射率測量薄膜的薄膜厚度值。您可以在微觀區(qū)域和許多不同的基板上進(jìn)行此操作。這使您不僅可以分析硅等基板上的薄膜，還可以分析平板顯示器和其他設(shè)備中常見的玻璃或石英薄膜。與5D Spectral Mapping™結(jié)合使用時(shí)，您可以在表面上生成高度空間分辨率的薄膜厚度圖。

CRAIC TimePro™ 動(dòng)力學(xué)顯微光譜
CRAIC TimePro™允許您測量微觀樣品區(qū)域隨時(shí)間的光譜響應(yīng)。能夠覆蓋完整的紫外-可見-近紅外范圍，TimePro™可在您的時(shí)間間隔內(nèi)生成3D顯示。它能夠通過透射率、反射率、發(fā)射、偏振或拉曼來測量光譜，并顯示樣品的變化情況。
CRAIC ColorPro™比色法

當(dāng)添加到CRAIC顯微光譜儀時(shí)，您可以確定顯微樣品的比色值。比色法計(jì)算可以在小至1微米的樣品上進(jìn)行，并且可以在反射率、透射率甚至熒光光譜上進(jìn)行。用CRAIC顯微光譜儀數(shù)據(jù)計(jì)算的比色法空間包括CIE XYZ，CIE LAB等。

GeoImage™地質(zhì)分析軟件

CRAIC GeoImage™是一種新的地質(zhì)分析工具，僅使用高分辨率數(shù)字成像代替光譜學(xué)。從相機(jī)收集圖像并逐個(gè)像素地分析以測量鏡質(zhì)體反射率。除了具有點(diǎn)計(jì)數(shù)選項(xiàng)外，該軟件還可以自動(dòng)掃描整個(gè)樣本。用于使用標(biāo)準(zhǔn)測試方法ISO 7404-5、ASTM D2798和GB/T 6948進(jìn)行有機(jī)巖相分析。

GeoImage™通過讀取攝像頭每個(gè)像素的鏡質(zhì)體反射強(qiáng)度來工作。這意味著，在標(biāo)準(zhǔn)配置中，可以同時(shí)測量數(shù)百萬個(gè)點(diǎn)，使鏡質(zhì)體反射率測試快速，簡單且準(zhǔn)確。 GeoImage™可配置為測量煤、干酪根和石油源巖以及其他許多材料的反射率。憑借靈活的設(shè)計(jì)，GeoImage™具有點(diǎn)計(jì)數(shù)功能，測試過程自動(dòng)化和高分辨率彩色成像，將輕松滿足煤炭測試方法和您自己實(shí)驗(yàn)的未來變化。