WKL-702顆粒圖像分析儀(配置2 進口顯微鏡)
WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和力度測量的顆粒分析系統(tǒng),由光學(xué)顯微鏡,數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的珠子攝像機將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像分析軟件對圖像進行分析處理,具有直觀、形象、準確和測試范圍寬等特點??梢杂^察顆粒形貌,也可得到顆粒分布等分析結(jié)果。
| 配置參數(shù)(配置2 進口顯微鏡) 三目生物顯微鏡:平場目鏡:10X、16X 消色差物鏡:4X、10X、40X、100X(油) 總放大倍數(shù):40X—1600X 攝像機:300萬像素數(shù)字CCD(標準C接頭)應(yīng)用范圍 適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量。形貌觀察和分析。 軟件功能及報告輸出格式 1.可以對圖像進行多項處理:如:影像增強、圖像疊加、局部提取、定向放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)等幾十種功能 2.具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量 3.可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖
主要技術(shù)參數(shù)
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