產(chǎn)品名稱: 溫度沖擊試驗(yàn)箱/冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫沖擊試驗(yàn)箱
產(chǎn)品型號: PJG
產(chǎn)品簡介: 用于電子元器件的安全性能測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時通過此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
高溫室 | 預(yù)熱溫度范圍 | +60~200℃ |
升溫速率※1 | +60~+200℃≤20分鐘 | |
低溫室 | 預(yù)冷溫度范圍 | -78~0℃ |
降溫速率※1 | +20~-75℃≤70分鐘 |
溫度沖擊范圍:-40~150℃,
試樣轉(zhuǎn)換時間≤10sec,
溫度恢復(fù)時間≤5min
PJG3-100 400×500×500
PJG3-150 500×500×500
制冷方式:二元復(fù)疊機(jī)械制冷(水冷機(jī)組請注明)
制冷系統(tǒng):全套附件均為進(jìn)口品牌
控制器:主要采用Honeywell-IPC2000溫度控制器(其他控制器可另作說明)