1、基本技術(shù)指標
1.1 設(shè)備名稱:雙層式恒溫恒濕試驗箱
1.2 設(shè)備型號:ATH-X02152
1.3 內(nèi)部尺寸: 300×400×250*2層(W×H×D)
1.4 外部尺寸: 1020*1680 *1200mm (W×H×D)
內(nèi)向容積:30L×2層
1.5 溫度范圍:-20℃~+150℃
濕度范圍:10%~98%R.
滿足;滿足65℃@95%RH ,30℃@60%RH ,60℃@60%RH 條件
1.6 升溫速率:-20℃~+150℃:≥3℃/min(全程平均)
降溫速率:+150℃~-20℃:≥1℃/min(全程平均)
1.7 溫度波動度:≤±0.5℃
濕度波動度:≤±3%RH
1.8 溫度均勻度:≤2.0℃
濕度均勻度:≥75%RH時 均勻度≤±3%RH
≤75%RH時 均勻度≤±5%RH
1.9溫度偏差: ≤±2.0℃
1.10滿足標準:GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設(shè)備GB/T 5170.5-2008濕熱試驗設(shè)備
GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術(shù)條件》
GB/T 10589-2008《低溫濕熱試驗箱技術(shù)條件》
GB/T 10592-2008《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方法試驗A:低溫試驗方法》
GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方法試驗B:高溫試驗方法》
GB/T 2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方法恒定濕熱試驗方法》
GB/T 2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方法交變濕熱試驗方法》
JJF 1101-2003 《境試驗設(shè)備溫度、濕度校準規(guī)范》
備注:1.以上性能指標指在無負荷、無試料,周圍環(huán)境溫度為25±2℃條件下測量的數(shù)據(jù)