新一代調(diào)溫型測(cè)試儀, K2 的上市將全面取代KIC2000 型測(cè)溫儀在市場(chǎng)上的銷(xiāo)售。
1、新一代調(diào)整溫型測(cè)試儀用于替代老版本系列。
2、*的性?xún)r(jià)比。
kic爐溫曲線測(cè)試儀體積小、耐用的硬件結(jié)構(gòu):
1、適合各種無(wú)鉛的過(guò)爐條件要求。。
2、7通道k2尺寸:
隔熱套: | 206x60x17(mm) 302x75x23(mm) |
3、9通道k2尺寸:
隔熱套: | 206x75x23(mm) 312x90x23(mm) |
4、耐用的硬件、兼容各種測(cè)試條件。
防呆與智能的技術(shù)
自動(dòng)審查與分析溫度曲線
電腦和移動(dòng)終端,雙向獲取溫度數(shù)據(jù)技術(shù)(可選):
瀏覽溫度數(shù)據(jù)的方法:
- · 安裝測(cè)試程序的電腦。
- · 的安卓移動(dòng)終端設(shè)備。
- · 具有共享選定曲線數(shù)據(jù)的功能
The Process Window Index
統(tǒng)計(jì)學(xué)的原理,表示溫度曲線的合格率:
PWI即工藝窗口指數(shù),利用統(tǒng)計(jì)學(xué)的原理,對(duì)每個(gè)獨(dú)立測(cè)試點(diǎn),結(jié)合工藝窗口進(jìn)行判定后,再比對(duì)其它測(cè)試點(diǎn)的zui大差異值,并依次進(jìn)行排序,PWI值越低,表示工藝越中心。(詳見(jiàn)PWI詳細(xì)介紹)
K2主要技術(shù)參數(shù):
系統(tǒng)精度: | ±0.5C |
解析度: | 0.1C |
內(nèi)部操作溫度: | 0C to 85C |
采樣頻率: | 0.1 to 10 per second |
數(shù)據(jù)點(diǎn): | 224,640 |
PC 連接: | USB 2.0 (Std-A/Mini-B) |
電源要求: | (3) AAA batteries |
溫度范圍: | -150 to 1050 |
熱電偶兼容性: 7, 9-通道: | Type K, Standard |
尺寸: | (L x W x H mm) |
隔熱套: | 參見(jiàn)以下隔熱套耐溫參數(shù)表中的規(guī)格 |
精度基于原廠校驗(yàn). |
隔熱套耐溫參數(shù)表 |
配置 | 尺寸 (mm) (長(zhǎng)×寬×高) | 150C | 200C | 250C | 300C | 350C | 400C |
防燙不繡鋼隔熱套,7通道 | 302.0 x 75.0 x 23.0 | 17.5 | 12.0 | 9.0 | 7.7 | 6.5 | |
防燙不繡鋼隔熱套,9通道 | 312.0 x 90.0 x 23.0 | 18.1 | 13.1 | 10.1 | 8.4 | 6.7 | |
HT shield 400 | 298.0 x 106.0 x 29.0 | 24.9 | 17.6 | 14 | 11.5 | 10.1 | 9.2 |