商品詳情
產(chǎn)品介紹:
SU-70采用了"semi-in-lens"物鏡以及肖特基場發(fā)射電子槍技術(shù),除了具有高分辨率的特點(diǎn)外,它還借助日立的Super E x B技術(shù)可觀察減輕荷電圖像,成分襯度圖像和超低加速電壓圖像。SU-70探針電流為100 nA,可進(jìn)行各種各樣的分析操作(X射線能譜儀,電子背散射衍射系統(tǒng)等)
主要特點(diǎn):
● 具有超高分辨率 :1.0nm/15kV,1.6nm/1kV(減速模式)。
● Super E x B技術(shù)用于控制SE/BSE信號(hào)檢測,實(shí)現(xiàn)消除放電現(xiàn)象及信號(hào)混合。
● 具有“Semi-in-lens”和“out-lens”兩種物鏡模式,可實(shí)現(xiàn)高分辨和磁性樣品兩種觀察模式。
應(yīng)用領(lǐng)域:
1. 納米材料
2. 金屬
3. 半導(dǎo)體器件
4. EBSP分析
產(chǎn)品圖片
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規(guī)格參數(shù)
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售后保障
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