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EDX-8000B能量色散X熒光光譜儀(XRF鍍層測(cè)厚)

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱優(yōu)若普科學(xué)儀器(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地上海
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2023/12/27 15:48:31
  • 訪問次數(shù)279
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優(yōu)若普科學(xué)儀器(上海)有限公司[UROP SCIENTIFIC INSTRUMENTS (SHANG HAI)CO.,LTD.]成立于上海市,位于上海市閔行區(qū)元江路5500號(hào),是一家專業(yè)的科學(xué)儀器設(shè)備制造商。公司擁有一批具有多年應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)并精通生物工程及化學(xué)技術(shù)的專業(yè)技術(shù)人員,為全國各地眾多科研院所、高校、醫(yī)藥、農(nóng)檢畜牧、電子化工等行業(yè)的各類大中小單位提供實(shí)驗(yàn)室科學(xué)儀器和實(shí)驗(yàn)室成套系統(tǒng)設(shè)計(jì)等服務(wù)。我們致力于成為:通用實(shí)驗(yàn)室科學(xué)儀器的專業(yè)方案供應(yīng)商。 優(yōu)若普的經(jīng)營理念:優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、專業(yè)服務(wù)、普惠價(jià)格。優(yōu)若普專注的領(lǐng)域:光譜分析、實(shí)驗(yàn)室超純水機(jī)、環(huán)境試驗(yàn)類儀器。1. 優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品及成熟方案提供。我們深知大眾市場(chǎng)該類儀器的核心指標(biāo)和檢測(cè)關(guān)鍵,并在解決這些問題上積累了豐富的科學(xué)數(shù)據(jù)經(jīng)驗(yàn),能為客戶提供穩(wěn)定、可靠的儀器設(shè)備。2. 專業(yè)的定制儀器提供。根據(jù)客戶的特殊需求,以專業(yè)化的創(chuàng)新思維,提供定制解決方案、配套儀器設(shè)備、售后服務(wù)等。 優(yōu)若普?qǐng)F(tuán)隊(duì)管理者:在儀器領(lǐng)域累積了近20年的實(shí)驗(yàn)室方案設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),精通各類科學(xué)儀器的配套應(yīng)用,熟悉市場(chǎng)環(huán)境,了解不同行業(yè)客戶群體的需求,能速的提供適合您的實(shí)驗(yàn)室解決方案。
觸摸屏鹽霧試驗(yàn)箱
產(chǎn)品型號(hào):EDX-8000B 產(chǎn)品報(bào)價(jià):請(qǐng)致電 相關(guān)產(chǎn)品:
EDX-8000B能量色散X熒光光譜儀(XRF鍍層測(cè)厚) 產(chǎn)品信息

EDX-8000B能量色散X熒光光譜儀XRF鍍層測(cè)厚

Simply The Best

>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域,實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。

>硅漂移探測(cè)器 (SDD) 作為檢測(cè)系統(tǒng)

高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測(cè)器可實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。

>高分辨率樣品觀測(cè)系統(tǒng)

精確的點(diǎn)位測(cè)量功能有助于提高測(cè)量精度。

>全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量

配合用戶友好的軟件界面,可以輕松地進(jìn)行日常測(cè)量。

 

背景介紹

材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,因此,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000B鍍層測(cè)厚儀是專門針對(duì)于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測(cè)定。其主要優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確,快速,無損,操作簡(jiǎn)單,測(cè)量速度快??赏瑫r(shí)分析多達(dá)五層材料厚度,并能對(duì)鍍層的材料成分進(jìn)行快速鑒定。

XRF鍍層測(cè)厚儀工作原理

鍍層測(cè)厚儀EDX8000B是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度,因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí),測(cè)量的也可以在10-30秒內(nèi)完成。

 

膜厚儀EDX8000B產(chǎn)品特點(diǎn)

>測(cè)試快速,無需樣品制備

>可通過內(nèi)置高清CCD攝像機(jī)來觀察及選擇定位微小面積鍍層厚度的測(cè)量,避免直接接觸,污染或破壞被測(cè)物

>備有多種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品

>可覆蓋元素周期表Mg鎂到U

>SDD檢測(cè)器,具有高計(jì)數(shù)范圍和出色的能量分辨率

>可切換準(zhǔn)直器和濾光片

 

膜厚儀EDX8000B應(yīng)用場(chǎng)景

>EDX8000B鍍層測(cè)厚儀可以用于PCB鍍層厚度測(cè)量,PCB鍍層分析,金屬電鍍鍍層分析;

>測(cè)量的對(duì)象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學(xué)生成膜等

>可測(cè)量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度

>鍍鉻,例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品

>鋼上鋅等防腐涂層

>電路板和柔性PCB上的涂層

>插頭和電觸點(diǎn)的接觸面

>電鍍液分析

>貴金屬鍍層,如金基上的銠材料分析

>電鍍液分析

>分析電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能涂層

>分析硬質(zhì)材料涂層,例如 CrN、TiN TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能


技術(shù)參數(shù)

儀器外觀尺寸: 560mm*380mm*410mm

超大樣品腔:460mm*310mm*95mm

儀器重量: 40Kg

元素分析范圍:Mg12-U92鎂到鈾

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

涂鍍層檢出限:0.005μm

探測(cè)器:AmpTek 高分辨率電制冷SDD Detector

多道分析器: 4096DPP analyzer

X光管:50W高功率光管

高壓發(fā)生裝置:電壓輸出50kV,自帶電壓過載保護(hù)

電壓:220ACV 50/60HZ

環(huán)境溫度:-10 °35 °C

 

膜厚儀EDX8000B可分析的常見鍍層材料

可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。 

單涂鍍層應(yīng)用:如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe

多涂鍍層應(yīng)用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe

合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu

合金成分應(yīng)用:如NiP/Fe, 同時(shí)分析鎳磷含量和鍍層厚度







關(guān)鍵詞:測(cè)厚儀
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