制藥網(wǎng)>產(chǎn)品庫(kù)>儀器儀表>測(cè)量/計(jì)量?jī)x器>其它測(cè)量?jī)x器>>BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱

BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱

參考價(jià)	￥ 99999
訂貨量	≥1件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng)成都四洋科技有限公司
品牌其他品牌
型號(hào)
所在地成都市
廠(chǎng)商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2024/11/4 11:42:53
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)193

產(chǎn)品標(biāo)簽:

BHAST 加速老化試驗(yàn)HAST 高加速應(yīng)力偏壓

在線(xiàn)詢(xún)價(jià) 收藏產(chǎn)品查看電話(huà) 同類(lèi)產(chǎn)品

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是制藥網(wǎng) 上看到的信息，謝謝!

索取相關(guān)資料

公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

成都四洋科技有限公司是FSSC成員之一，位于中國(guó)成都經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)。主要涉足低溫、電子、真空行業(yè)。公司擁有一批技術(shù)團(tuán)隊(duì)，是集生產(chǎn)、貿(mào)易、維修服務(wù)為一體的高科技公司。公司核心技術(shù)人員依托美國(guó)Chart（原中國(guó)國(guó)企“金鳳“）及航空、核工業(yè)物理所技術(shù)優(yōu)勢(shì)，致力于低溫儲(chǔ)存技術(shù)、真空絕熱技術(shù)、深冷處理技術(shù)的研究、開(kāi)發(fā)及系統(tǒng)集成，提供特殊低溫應(yīng)用領(lǐng)域的技術(shù)方案、產(chǎn)品設(shè)計(jì)及專(zhuān)用低溫設(shè)備研發(fā)；代理業(yè)務(wù)包括銷(xiāo)售國(guó)外產(chǎn)品:美國(guó)AEG調(diào)功器、美國(guó)AE（Advanced Energy）公司電源、美國(guó)MKS（萬(wàn)機(jī)）真空計(jì)及流量計(jì)、德國(guó)普發(fā)Pfeiffer真空設(shè)備及儀器、美國(guó)Brooks Automation CTI低溫冷泵、GP真空計(jì)、瑞士英福康inficon、Brooks instrument流量計(jì)、VAT真空閥門(mén)等產(chǎn)品。

我公司有著充足的庫(kù)存，交貨期短，在價(jià)格上有很大優(yōu)勢(shì)，有一支兼銷(xiāo)售、技術(shù)支持、售后服務(wù)為一體的優(yōu)秀團(tuán)隊(duì)為您提供貼心服務(wù)！歡迎致電4008-567-377或發(fā)郵件到siyangchina@163.com索取您所感興趣的產(chǎn)品資料。

更多詳細(xì)參數(shù)請(qǐng)?jiān)L問(wèn)【成都四洋科技有限公司】網(wǎng)站:

www.4-ocean.com

展開(kāi)顯示更多內(nèi)容

MKS、GP、Inficon、Pfeiffer、Adixen、Busch 、CVI低溫泵、VAT真空閥門(mén)、Swagelok真空配件、Line Tech 流量計(jì)等

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線(xiàn)詢(xún)價(jià)

產(chǎn)地	國(guó)產(chǎn)	產(chǎn)品新舊	全新
自動(dòng)化程度	其他

BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能。B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)是將被測(cè)元件放置于一定的環(huán)境溫度中,（環(huán)境溫度依據(jù)被測(cè)元件規(guī)格設(shè)定）給被測(cè)元件施加一定的偏置電壓。

BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品信息

(頁(yè)面價(jià)格供參考，具體請(qǐng)聯(lián)系報(bào)價(jià))

BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱

適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能。B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)是將被測(cè)元件放置于一定的環(huán)境溫度中,（環(huán)境溫度依據(jù)被測(cè)元件規(guī)格設(shè)定）給被測(cè)元件施加一定的偏置電壓。

BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能。B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)是將被測(cè)元件放置于一定的環(huán)境溫度中,（環(huán)境溫度依據(jù)被測(cè)元件規(guī)格設(shè)定）給被測(cè)元件施加一定的偏置電壓。同時(shí)控制系統(tǒng)實(shí)時(shí)檢測(cè)每個(gè)材料的漏電流，電壓，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定，當(dāng)被測(cè)材料實(shí)時(shí)漏電流超出設(shè)定時(shí)，自動(dòng)切斷被測(cè)材料的電壓，可以保護(hù)被測(cè)元件不被進(jìn)一步燒毀。

BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱

·每顆器件的Vgs獨(dú)立控制

·實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的Id、Ig

· 控制上、下電時(shí)序

· 全過(guò)程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤(pán)中，可輸出Excel

·試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過(guò)程漏電流IR變化曲線(xiàn)

·漏電流超限保護(hù)，自動(dòng)切斷測(cè)量回路