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MATRIX-MF FT-IR 過程反應(yīng)監(jiān)測 MATRIX - MF

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱通透光學(xué)儀器(成都)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號MATRIX - MF
  • 所  在  地成都市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2024/7/5 8:00:46
  • 訪問次數(shù)138
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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通透光學(xué)儀器(成都)有限公司,是一家致力于為客戶提供一站式實驗室解決方案的系統(tǒng)集成商,公司主要人員來自于以顯微鏡為主的光學(xué)微區(qū)形態(tài)學(xué)分析系統(tǒng),化學(xué)元素分析系統(tǒng),長度計量分析系統(tǒng),時間微區(qū)解決系統(tǒng),半導(dǎo)體綜合測試系統(tǒng)等領(lǐng)域的工程背景研發(fā)和銷售人員。 通透光學(xué)儀器(成都)有限公司擁有自研品牌 TONT INSIGHT 的顯微分析系統(tǒng),我們提供從宏觀尺度的三維激光掃描儀、亞宏觀的工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡、元素分析光譜儀、微觀領(lǐng)域的顯微分析系統(tǒng)、超微觀領(lǐng)域掃描電鏡、納米CT,到原位微區(qū)的熒光壽命、納米力學(xué)、納米壓痕、高溫納米分析、原位光譜等多種跨學(xué)科分析系統(tǒng)。 通透光學(xué)儀器(成都)有限公司是德國布魯克分子光譜、北京中科科儀KYKY、深圳古安泰等的簽約代理商,彼此之間密切合作,共同服務(wù)于工業(yè)儀器行業(yè)的客戶。 通透光學(xué)儀器(成都)有限公司總部位于成都,在北京、上海、廣州、深圳、西安等地設(shè)立了分支機(jī)構(gòu)與代表處,建立了覆蓋全國的營銷網(wǎng)絡(luò)與技術(shù)服務(wù)中心。我們來自成都,我們堅持口碑,我們不崇洋媚外,我們不迷信品牌,我們只賣對的,不賣貴的,我們始終堅持中立的原則為您提供最合適的解決方案。我們愿意用我們的經(jīng)驗和行業(yè)儲備,為信任我們的顧客提供另一種選項,讓您始終有多種可選方案。 一幫志同道合的人,付出一輩子的時間,干好一件平凡的事!
傅里葉近紅外光譜儀
MATRIX-MFFT-IR過程反應(yīng)監(jiān)測MATRIX-MFMATRIX-MF是一款堅固緊湊的光譜儀,通過連接光纖可在實驗室和工業(yè)過程環(huán)境中對化學(xué)反應(yīng)進(jìn)行監(jiān)測MATRIX-MF傅立葉變換紅外光譜儀由久經(jīng)考驗的MATRIX系列產(chǎn)品衍生而來
MATRIX-MF FT-IR 過程反應(yīng)監(jiān)測 MATRIX - MF 產(chǎn)品信息

MATRIX-MF FT-IR 過程反應(yīng)監(jiān)測

MATRIX - MF

MATRIX-MF是一款堅固緊湊的光譜儀,通過連接光纖可在實驗室和工業(yè)過程環(huán)境中對化學(xué)反應(yīng)進(jìn)行監(jiān)測

MATRIX-MF傅立葉變換紅外光譜儀由久經(jīng)考驗的MATRIX系列產(chǎn)品衍生而來。中紅外區(qū)光譜信息豐富,因此MATRIX-MF可被廣泛用于實驗室和過程分析。MATRIX-MF專為過程分析而開發(fā),是化學(xué)和生物反應(yīng)過程實時監(jiān)測和分析的理想工具。

穩(wěn)健的設(shè)計

得益于MATRIX系列屢獲殊榮的設(shè)計,MATRIX的光學(xué)元件能夠得到的很好密封保護(hù)。即使工作在的環(huán)境下,準(zhǔn)直的 RockSolid™干涉儀和Digitect™ 檢測器電子元件也能確保優(yōu)質(zhì)光譜的獲取。盡管該儀器專為過程控制而設(shè)計,但由于其較小的體積,它同樣是實驗室應(yīng)用的理想之選。

 

MATRIX-MF具備布魯克的快速接頭設(shè)計(BQC),使得光纖探頭的連接與更換非常簡單并具有很好的重復(fù)性,從而提供穩(wěn)定的結(jié)果??梢酝ㄟ^多路轉(zhuǎn)換器的擴(kuò)展,一臺儀器可監(jiān)測多達(dá)6個反應(yīng)器。

光纖探頭

衰減全反射(ATR)采樣技術(shù)和光導(dǎo)光纖的組合,增強(qiáng)了紅外光譜的應(yīng)用。光纖探頭的原位測量技術(shù),充分發(fā)揮出了具有豐富信息的中紅外光譜測量的優(yōu)勢。布魯克為您提供了大量可供選擇的探頭,包括專有的IN350-T金剛石ATR探頭,可以幫助您通過連接裝置進(jìn)行原位分析。

紅外光纖探頭由雙反射ATR探頭端部和優(yōu)良性能的中紅外鹵化銀光纖構(gòu)成。

  • IN350-T:金剛石ATR光纖探頭
     (? 6 mm),ATEX區(qū)域亦可使用

  • IN351:微金剛石ATR光纖探頭
     (? 3.17 mm)

  • IN355:金剛石ATR光纖探頭 
     (? 6.3 mm)

  • IN356-EX:金剛石ATR光纖探頭
     (? 12 mm),ATEX區(qū)域亦可使用

其它 ATR 晶體(如硅)亦可使用

輕松實現(xiàn)過程集成

MATRIX-MF可作為實驗室的獨立系統(tǒng)使用。較小的占地面積使得能夠安裝在19英寸的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜中。您可以通過各種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)通信協(xié)議接口(如4-20 mA、OPC、Modbus、Profibus DP等)與之進(jìn)行通訊連接,從而輕松實現(xiàn)過程系統(tǒng)的集成。

維護(hù)和驗證

OPUS 驗證程序(OVP)能夠利用內(nèi)置的自動化濾光輪執(zhí)行一系列性能測試。這些性能測試可以監(jiān)測儀器硬件的性能,判斷儀器運(yùn)行狀態(tài)是否理想。MATRIX系列專為運(yùn)行的可靠性和維護(hù)的方便性而設(shè)計,各個耗件均安裝在預(yù)先對準(zhǔn)的底座上,用戶無需對準(zhǔn)光學(xué)元件,即可進(jìn)行快速更換。

MATRIX-MF 防爆

MATRIX-MF還擁有符合以下標(biāo)準(zhǔn)的ATEX防爆版本:

  • II 2G Ex px II T4 (T6

  • II (1) G [Ex op is T6] IIC

穩(wěn)健的設(shè)計

得益于MATRIX系列屢獲殊榮的設(shè)計,MATRIX的光學(xué)元件能夠得到的很好密封保護(hù)。即使工作在的環(huán)境下,準(zhǔn)直的 RockSolid™干涉儀和Digitect™ 檢測器電子元件也能確保優(yōu)質(zhì)光譜的獲取。盡管該儀器專為過程控制而設(shè)計,但由于其較小的體積,它同樣是實驗室應(yīng)用的理想之選。

 

MATRIX-MF具備布魯克的快速接頭設(shè)計(BQC),使得光纖探頭的連接與更換非常簡單并具有很好的重復(fù)性,從而提供穩(wěn)定的結(jié)果??梢酝ㄟ^多路轉(zhuǎn)換器的擴(kuò)展,一臺儀器可監(jiān)測多達(dá)6個反應(yīng)器。

光纖探頭

衰減全反射(ATR)采樣技術(shù)和光導(dǎo)光纖的組合,增強(qiáng)了紅外光譜的應(yīng)用。光纖探頭的原位測量技術(shù),充分發(fā)揮出了具有豐富信息的中紅外光譜測量的優(yōu)勢。布魯克為您提供了大量可供選擇的探頭,包括專有的IN350-T金剛石ATR探頭,可以幫助您通過連接裝置進(jìn)行原位分析。

紅外光纖探頭由雙反射ATR探頭端部和優(yōu)良性能的中紅外鹵化銀光纖構(gòu)成。

  • IN350-T:金剛石ATR光纖探頭
     (? 6 mm),ATEX區(qū)域亦可使用

  • IN351:微金剛石ATR光纖探頭
     (? 3.17 mm)

  • IN355:金剛石ATR光纖探頭 
     (? 6.3 mm)

  • IN356-EX:金剛石ATR光纖探頭
     (? 12 mm),ATEX區(qū)域亦可使用

其它 ATR 晶體(如硅)亦可使用

輕松實現(xiàn)過程集成

MATRIX-MF可作為實驗室的獨立系統(tǒng)使用。較小的占地面積使得能夠安裝在19英寸的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜中。您可以通過各種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)通信協(xié)議接口(如4-20 mA、OPC、Modbus、Profibus DP等)與之進(jìn)行通訊連接,從而輕松實現(xiàn)過程系統(tǒng)的集成。

維護(hù)和驗證

OPUS 驗證程序(OVP)能夠利用內(nèi)置的自動化濾光輪執(zhí)行一系列性能測試。這些性能測試可以監(jiān)測儀器硬件的性能,判斷儀器運(yùn)行狀態(tài)是否理想。MATRIX系列專為運(yùn)行的可靠性和維護(hù)的方便性而設(shè)計,各個耗件均安裝在預(yù)先對準(zhǔn)的底座上,用戶無需對準(zhǔn)光學(xué)元件,即可進(jìn)行快速更換。

MATRIX-MF 防爆

MATRIX-MF還擁有符合以下標(biāo)準(zhǔn)的ATEX防爆版本:

  • II 2G Ex px II T4 (T6

  • II (1) G [Ex op is T6] IIC


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