OSPrey800(OSP鍍層測(cè)厚儀)原理
OSPrey800@儀器利用光譜分析原理無損檢測(cè)OSP鍍層厚度。無需準(zhǔn)備樣品,可實(shí)時(shí)檢測(cè)實(shí)際產(chǎn)品上的OSP鍍層厚度。
OSPrey800(OSP鍍層測(cè)厚儀)優(yōu)點(diǎn)
OSPrey800@儀器在檢測(cè)過程中不會(huì)對(duì)PCB/PWB板產(chǎn)生不利影響。通過進(jìn)行PCB/PWB上OSP鍍層厚度的定量、完整性、可靠性及膜層形態(tài)的細(xì)致分析,進(jìn)而檢驗(yàn)OSP鍍層的應(yīng)用可靠性。
檢測(cè)可在OSP鍍層的生命周期的不同階段進(jìn)行,使用戶可以通過監(jiān)控OSP鍍層形成和儲(chǔ)藏過程中產(chǎn)生的不良變化對(duì)工藝進(jìn)行必要的調(diào)整。例如,可以在PCB/PWB生命周期的不同階段檢測(cè)OSP鍍層的厚度以預(yù)測(cè)在后續(xù)的工藝過程中由于OSP鍍層的可焊性變化而對(duì)工藝產(chǎn)生的影響。
OSPrey800(OSP鍍層測(cè)厚儀)產(chǎn)品特色:
- 無損實(shí)時(shí)檢測(cè)
- 不再使用檢驗(yàn)銅箔,無需樣品制備
- 超小檢測(cè)點(diǎn)
- 二維圖象分析功能
- 可在粗糙表面測(cè)量OSP鍍層厚度
- 人性化操作流程設(shè)計(jì)
OSPrey800(OSP鍍層測(cè)厚儀規(guī)格說明:
--光源激發(fā) 420nm~665nm復(fù)合波長(zhǎng)光源,通過V型刻痕濾光片選擇特定波長(zhǎng)光學(xué)。 20倍光學(xué)變焦和成像系統(tǒng),1/8英吋光纖。
--檢測(cè)器 CCD檢測(cè)器
--分析 處理由OSP的膜厚反射而形成的反射光譜,自行編程的編輯器來輸入需預(yù)先設(shè)定的參數(shù) 。
--工作環(huán)境
--樣品臺(tái) XY軸固定樣品放置臺(tái),Z軸自動(dòng)光學(xué)聚焦
--電源 110-240VAC,50-60Hz,230W;Maximum Fuse Provide:
--儀器尺寸 操作臺(tái): 25 寬 x 30 長(zhǎng)x 46.5 高 (cm), 主控制器 : 27.5長(zhǎng)x20.7寬x14.5(cm)