FEI SEM Apreo 掃描電子顯微鏡圖片

FEISEMApreo掃描電子顯微鏡革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生*的高分辨率和信號選擇。這使得Apreo成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。