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芯片老化測試箱 BURN-IN OVEN 詳細(xì)摘要： 芯片老化測試箱用于對封裝好的電路進行可靠性測試（ReliabilityTest），它的主要目的是為了檢出早期失效的器件，稱為InfantMortality
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時間：2021-08-27 參考價： 面議 在線留言
| 蘇州諾威特測控科技有限公司 |
詳細(xì)摘要： 芯片老化測試箱用于對封裝好的電路進行可靠性測試（ReliabilityTest），它的主要目的是為了檢出早期失效的器件，稱為InfantMortality
產(chǎn)品型號： 所在地： 更新時間：2021-08-27 參考價： 面議 在線留言