行業(yè)產(chǎn)品

  • 行業(yè)產(chǎn)品

成都中冷低溫科技有限公司


  • 微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)

    詳細(xì)摘要: 微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)。是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓,模擬微波器件在實際使用中可能遇到的高溫、高...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • 半導(dǎo)體芯片HAST測試高加速老化測試機(jī)

    詳細(xì)摘要: 半導(dǎo)體芯片HAST測試高加速老化測試機(jī),Burn-in Chamber測試機(jī)HAST試驗箱,HAST測試機(jī)高加速壽命試驗箱Burn-in system,HAST...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)

    詳細(xì)摘要: HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng),微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)。是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓,模擬微...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • 日本hirayama平山HAST高加速壽命試驗箱維修

    詳細(xì)摘要: 日本hirayama平山HAST高加速壽命試驗箱維修,增加偏壓端子。超加速壽命試驗機(jī),是用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設(shè)備...

    產(chǎn)品型號:PC-422R8所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • 探針臺卡盤CHUCK高低溫晶圓卡盤

    詳細(xì)摘要: 探針臺卡盤CHUCK高低溫晶圓卡盤,TC-A (Air Cooling Thermal System )系列是一款溫度范圍為-65℃到200℃氣冷型高低溫卡盤系...

    產(chǎn)品型號:ZL所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • HAST半導(dǎo)體芯片BiasHAST測試系統(tǒng)

    詳細(xì)摘要: HAST半導(dǎo)體芯片BiasHAST測試系統(tǒng),微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)。是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • Espec日本愛思佩克高加速老化HAST維修

    詳細(xì)摘要: Espec日本愛思佩克高加速老化HAST維修,增加偏壓端子。超加速壽命試驗機(jī),是用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設(shè)備其目的是...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • chiller溫控器冰水機(jī)HRS090維修服務(wù)

    詳細(xì)摘要: chiller溫控器冰水機(jī)HRS090維修服務(wù),半導(dǎo)體冷卻裝置Chiller是專為半導(dǎo)體、元器件、芯片等產(chǎn)品的高低溫溫度模擬測試而設(shè)計的控溫設(shè)備,在生產(chǎn)流程中發(fā)...

    產(chǎn)品型號:SMC所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • HAST老化測試儀Burn-in Oven

    詳細(xì)摘要: HAST老化測試儀Burn-in Oven,HAST測試機(jī)高加速壽命試驗箱Burn-in system,HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • BHAST高加速老化測試箱

    詳細(xì)摘要: BHAST高加速老化測試箱,微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)。是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓,模擬微波器件在...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • HAST測試的失效機(jī)理 模擬老化壽命加速

    詳細(xì)摘要: HAST測試的失效機(jī)理 模擬老化壽命加速,HAST高加速壽命試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測試系統(tǒng)

    詳細(xì)摘要: HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測試系統(tǒng),HAST測試系統(tǒng)采用立式結(jié)構(gòu),便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件,對半導(dǎo)體芯片施加偏置電壓,以模擬芯片在長時間使用...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • BiasHAST高加速壽命偏壓MOSFET-HAST測試

    詳細(xì)摘要: BiasHAST高加速壽命偏壓MOSFET-HAST測試,HAST測試系統(tǒng)采用立式結(jié)構(gòu),便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件,對半導(dǎo)體芯片施加偏置電壓,以模...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • HAST高加速老化試驗箱

    詳細(xì)摘要: HAST高加速老化試驗箱,HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條...

    產(chǎn)品型號:HAST-400所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • 熱流儀搭配液晶顯示屏測量高低溫系統(tǒng)試驗

    詳細(xì)摘要: 熱流儀搭配液晶顯示屏測量高低溫系統(tǒng)試驗,ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學(xué)檢測設(shè)備, 提供顯示行業(yè) LCD, LCM, TV, monitor...

    產(chǎn)品型號:TS-580所在地:成都市更新時間:2024-10-14 在線留言

  • 高低溫載物臺CHUCK

    詳細(xì)摘要: 高低溫載物臺CHUCK,是一款溫度范圍為-65℃到200℃氣冷型高低溫卡盤系統(tǒng),主要由氣冷高低溫卡盤和氣冷溫控器組成。系統(tǒng)具有寬泛的溫度控制范圍、緊湊的冷卻套件...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-09-09 在線留言

  • 接觸式芯片高低溫沖擊測試設(shè)備 維修服務(wù)

    詳細(xì)摘要: 接觸式芯片高低溫沖擊測試設(shè)備 維修服務(wù),通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞,與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)備(熱流儀、溫箱等)相比具有升降溫效率高,操作簡單方...

    產(chǎn)品型號:Mechanical Devices所在地:成都市更新時間:2024-08-21 在線留言

  • HAST高加速壽命試驗箱

    詳細(xì)摘要: HAST高加速壽命試驗箱,HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-08-21 在線留言

  • CAF測試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗箱

    詳細(xì)摘要: CAF測試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗箱,CAF測試也叫離子遷移測試,CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質(zhì)的實驗方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食品接觸...

    產(chǎn)品型號:所在地:成都市更新時間:2024-08-21 在線留言

  • 接觸式氣流儀 FlexTC 維修服務(wù)

    詳細(xì)摘要: 接觸式氣流儀 FlexTC 維修服務(wù),通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞,與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)備(熱流儀、溫箱等)相比具有升降溫效率高,操作簡單方便...

    產(chǎn)品型號:Mechanical Devices所在地:成都市更新時間:2024-08-21 在線留言

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