型 Z-200 C+

 相對(duì)于便攜式XRF，有更多的元素可以分析。元素氫（H）到鈉（Na）可通過(guò)Z進(jìn)行測(cè)量，但不能由便攜式XRF測(cè)定。這包括像碳，鋰，鈹，硼，鈉和其他關(guān)鍵元素。相比于便攜式XRF，由于該技術(shù)的光學(xué)性質(zhì)，Z在低得多的檢測(cè)下限可測(cè)量鎂，硅，鋁等元素。

一、特性

       1、分析元素周期表中從 H  到 U 的所有元素，內(nèi)置 SciAps 的高分辨率光譜議。
       2、可選氬氣凈化技術(shù)： 專用于分析波長(zhǎng)小于 200nm 的元素，如 C 元素；可降低所有元素的檢測(cè)下限。
       3、源光源：1532nm 5mJ  激光 激光安全等級(jí)：1 級(jí)（與投影用激光筆屬同一安全和等級(jí)）對(duì)眼睛不會(huì)產(chǎn)生危害 .
       4、1 秒出測(cè)試結(jié)果
       5、兩維可調(diào)節(jié)自動(dòng)對(duì)焦激光束，激光束直徑 50uM ，自動(dòng)求和并計(jì)算平均值 
       6、內(nèi)置高清照相機(jī)及視頻成像系統(tǒng)，支持圖片文件保存樣品測(cè)試結(jié)果,選擇與查看精確聚焦激光測(cè)試點(diǎn),精確定位特定測(cè)試的檢測(cè)點(diǎn) , 驅(qū)動(dòng)！內(nèi)置安卓應(yīng)用平臺(tái)，操作簡(jiǎn)單， 一看就會(huì);其無(wú)線， 藍(lán)牙，GPS 功能可與任何安卓系統(tǒng)設(shè)備如手機(jī)，平板同步信息,結(jié)實(shí)耐用！與手持 XRF 相比，*擺脫了對(duì)易損的硅 Pin 或硅漂移探測(cè)器的依賴 

       7、在元素分析及材料類型分析領(lǐng)域， 激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)分析儀提供一種能取代手持 X 射線熒光光譜儀及火花直讀光譜儀的技術(shù)。與光學(xué)火花發(fā)射光譜（OES)技術(shù)類似，在LIBZ 分析過(guò)程中, 高強(qiáng)度激光光斑(等離子體)在分析材料表面形成。 待離子體冷卻后不同元素的特征光譜被LIBZ 捕捉到。不同長(zhǎng)度的特征光代表了不同的元素， 特定特征光的強(qiáng)度代表了特定元素的含量。

      SciAps 很高興地向大家介紹Z 分析儀。Z 分析儀是一款采用 LIBZ 技術(shù)的手持式分析儀， 其分析元素周期中低原子序號(hào)元素的能力可以與便攜式光學(xué)火花發(fā)射光譜儀媲美， 同時(shí)又有手持式X射線分析儀一樣的便攜性。Z分析儀的主要特點(diǎn)：
        a) 激光源安全等級(jí)一級(jí),操作時(shí)無(wú)需佩帶 
        b) 高分辨率感光元件
        c) 極低的檢測(cè)下限  

總結(jié): 
      Z分析儀是一款手持LIBS分析儀。Z 分析儀不但擁有手持式 X 射線分析儀分析過(guò)渡元素和重金屬元素的分析性能,而且擁有分析元素周期表中低原子序號(hào)元素和鋁合金的性能,且所有Z分析儀都不受X射線裝置的相關(guān)法律管制。