詳細(xì)介紹
測(cè)量原理
原 理:
導(dǎo)波雷達(dá)發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測(cè)組件(鋼纜或鋼棒)傳播,遇到被測(cè)介質(zhì),由于介電常數(shù)突變,引起反射,一部分脈沖能量被反射回來(lái)。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時(shí)間間隔與被測(cè)介質(zhì)的距離成正比。
特 點(diǎn):
由于采用了*的微處理器和的choDiscovery回波處理技術(shù),導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)可以應(yīng)用于各種復(fù)雜工況。
多種過(guò)程連接方式及探測(cè)組件的型式,使得DDKJ700系列導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)適用于各種復(fù)雜工況及應(yīng)用場(chǎng)合。如:高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)等。
采用脈沖工作方式,導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)發(fā)射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi),對(duì)人體及環(huán)境均無(wú)傷害。
說(shuō) 明:
導(dǎo)波雷達(dá)是基于時(shí)間行程原理的測(cè)量?jī)x表,雷達(dá)波以光速運(yùn)行,運(yùn)行時(shí)間可以通過(guò)電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號(hào)。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳播,當(dāng)脈沖遇到物料表面時(shí)反射回來(lái)被儀表內(nèi)的接收器接收,并將距離信號(hào)轉(zhuǎn)化為物位信號(hào)。
反射的脈沖信號(hào)沿纜式或桿式探頭傳導(dǎo)至儀表電子線路部分,微處理器對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理,識(shí)別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號(hào)識(shí)別由脈沖軟件完成,距離物料表面的距離D與脈沖的時(shí)間行程T 成正比:
D=C×T/2
其中C為光速
因空罐的距離E已知,則物位L為:
L=E-D
通過(guò)輸入空罐高度E(=低點(diǎn)),滿罐
高度F(=滿量程)及一些應(yīng)用參數(shù)來(lái)設(shè)定,應(yīng)用參數(shù)將自動(dòng)使儀表應(yīng)測(cè)量環(huán)境,對(duì)應(yīng)于4-20mA輸出。
測(cè)量范圍:
說(shuō)明:
H----測(cè)量范圍
L----空罐距離
B----頂部盲區(qū)
E----探頭到罐壁的很小距離
頂部盲區(qū)是指物料很高料面與測(cè)量參考點(diǎn)之間的很小距離。
底部盲區(qū)是指纜繩很底部附近無(wú)法精確測(cè)量的一段距離。
頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測(cè)量距離。
注意:
只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時(shí),才能保證罐內(nèi)物位的可靠測(cè)量。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
適用介質(zhì):液體,特別是強(qiáng)腐蝕性的液體
應(yīng) 用:酸類、堿類或其它腐蝕性介質(zhì)測(cè)量
防爆認(rèn)證:Exia IIC T6 Ga/ Exd ia IIC T6 Gb
測(cè)量范圍:20m
頻 率:500MHz-1.8GHz
天 線:全四氟密封纜式或桿式天線
測(cè)量精度:±10mm
過(guò)程溫度:(-40~200)℃
過(guò)程壓力:(-0.1~4)MPa
信號(hào)輸出:(4~20)mA/HART
現(xiàn)場(chǎng)顯示:四位LCD 可編程
電 源:兩線制(DC24V)/四線制(DC24V/AC220V)
外 殼:鋁/ 塑料
過(guò)程連接:螺紋/法蘭(選配)