數(shù)顯臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀 返回列表頁(yè)

對(duì)于塑料薄膜來(lái)講，厚度是影響力學(xué)性能、阻隔性的因素之一，需要在質(zhì)量和成本上的指標(biāo)。塑料薄膜厚度是指一定條件下測(cè)得的試樣的界面距離。鑒定標(biāo)準(zhǔn)只適用于光面、未經(jīng)壓花的薄膜。厚度測(cè)定的目的是為了弄清薄膜厚度的差異，同時(shí)，也是進(jìn)行其它測(cè)試時(shí)所必需的數(shù)據(jù)之一。測(cè)定時(shí)所施加壓力的大小具有重要意義，薄膜越軟則影響越大，軟質(zhì)薄膜的測(cè)定壓力應(yīng)為0.25公斤/厘米2，硬質(zhì)薄膜為3公斤/厘米2。大于上述測(cè)定壓力，薄膜會(huì)受壓縮，另一方面，也應(yīng)防止將測(cè)定器過快觸及被測(cè)薄膜，否則，使軟質(zhì)薄膜變形。上述情況均會(huì)影響測(cè)定結(jié)果。測(cè)試時(shí)必須將薄膜平整地放在測(cè)定儀的測(cè)定位置上，必須定期復(fù)核厚度測(cè)定器的準(zhǔn)確度。

塑料薄膜厚度檢測(cè)用什么儀器設(shè)備？

 數(shù)顯臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀THK-01主要適用于薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片、硬片、紙板等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準(zhǔn)確測(cè)量，分辨率達(dá)0.1μm，本厚度測(cè)定儀采用接觸式測(cè)試原理，截取一定尺寸試樣，測(cè)厚儀測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值。廣泛應(yīng)用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)等單位。

 數(shù)顯臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀THK-01THK-01主要參數(shù)

通用名稱：測(cè)厚儀

測(cè)量范圍：0～2mm（標(biāo)配）；0～6mm、0～12mm（選配）

分辨率：0.1μm

測(cè)試速度：1～25次/min

測(cè)量頭平行度：±2μm（機(jī)械調(diào)整，量塊校驗(yàn)）

重復(fù)性：0.3μm

測(cè)量壓力：17.5±1kPa(薄膜）、50±1kPa(紙張)

接觸面積：50mm²(薄膜)； 200mm² (紙張)；

薄膜、紙張任選一種，非標(biāo)可定制

電源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

約凈重：15Kg

參照標(biāo)準(zhǔn)

GB/T6672（塑料薄膜與薄片厚度的測(cè)定機(jī)械測(cè)量法）、GB/T451.3(GB/T451.3紙張和紙板厚度測(cè)定方法)、GB/T6547（瓦楞紙板的厚度測(cè)量準(zhǔn)則）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817       GB/T 6618-2009《硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法》

測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家