-
FE-SEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要: 特征●半漏磁物鏡(semi-in-lens),適合觀察和分析納米材料
產(chǎn)品型號: 所在地:蘇州市 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
鎢燈絲掃描電鏡 詳細(xì)摘要: 特征1、自動連續(xù)偏壓技術(shù)和IFT燈絲監(jiān)控技術(shù)2、優(yōu)異的觀察能力3、多探頭成像系統(tǒng)4、強大的樣品適用性
產(chǎn)品型號: 所在地:蘇州市 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言 -
臺式掃描電鏡 詳細(xì)摘要: 特征1、重新優(yōu)化了光路
產(chǎn)品型號: 所在地:蘇州市 更新時間:2024-04-07 參考價: 面議 在線留言