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膜厚測試儀器-橢偏儀 詳細(xì)摘要： 本設(shè)備基于雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制技術(shù)一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、R/T等光譜，可實(shí)現(xiàn)基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學(xué)常數(shù)的快速分析表征。
產(chǎn)品型號： 所在地：上海 更新時(shí)間：2023-10-12 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
光譜橢偏儀 詳細(xì)摘要： SE-VE橢偏儀是基于單旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制技術(shù)一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、反射率等光譜，可實(shí)現(xiàn)基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學(xué)常數(shù)的快速分析表征。
產(chǎn)品型號： 所在地：上海 更新時(shí)間：2023-10-11 參考價(jià)： 面議 在線留言