HL200導(dǎo)電粒子檢查顯微鏡.微分干涉

HL200導(dǎo)電粒子檢查顯微鏡。微分干涉、高倍率、高解析觀察、分析、量測(cè)，在深圳、廣州、南京、上海、北京、蘇州、昆山、重慶等多地銷售，反應(yīng)良好，效果佳。帶有偏光及微分干涉功能，是觀察TFT導(dǎo)電粒子的*佳選擇。

光學(xué)部件

目 鏡：CFI高眼點(diǎn)、大視野

物 鏡：ELWD APO LENS

光 學(xué) 頭：內(nèi)置多組棱鏡組成、偏光鏡、濾 光鏡、各種調(diào)節(jié)集成等

分 光：采用分光設(shè)置

微分干涉：冰洲石雙折射現(xiàn)象

鏡片鏡片具有*光學(xué)技術(shù)、高清晰，高透光率，*鍍膜技術(shù)等特點(diǎn)。

在鏡片的高折射率材料、非球面技術(shù)、個(gè)性化光學(xué)設(shè)計(jì)、光學(xué)鍍膜等方面處于地位。鏡片和鍍膜

光學(xué)技術(shù)的代表。

多層鍍膜：60多層。

削 球 面：保證成像質(zhì)量，不變形、真實(shí)。

消 色 差：顏色不失真。