X Series 2電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)

產品參數(shù)及特點：
ICP-MS是獲得認可的痕量元素分析和定量的高效技術。 其應用范圍從半導體工業(yè)到地質和環(huán)保分析、從生物研究到材料科學。 ICP-MS最嚴重的限制是元素信號的多原子干擾，這種干擾主要來自氬或樣品基質。  高質量分辨率是識別和消除干擾的標準。 即使沒有樣品制備步驟，消除干涉也能準確可靠地進行痕量級多元素定量分析。

多元素分析
1、多元素檢測器具備處理瞬態(tài)信號（包括CE、HPLC、GC、FFF和激光燒蝕）的速度
2、從超痕量到基質組分、從mg/L到亞pg/L濃度范圍的覆蓋周期表的無干擾測量
3、與無機和有機固體以及幾乎所有溶液基質兼容
全自動的常規(guī)分析
1、自動調節(jié)所有參數(shù)，包括透鏡、氣流和炬位，以獲得可重復而可靠的系統(tǒng)設置
2、全面、可定制的質量控制系統(tǒng)
3、可靠耐用，可作為全年無休的生產控制工具，樣品通量
具有靈活性和易用性的研究工具
1、擁有權限進入方法開發(fā)的所有儀器參數(shù)
2、具有高質量分辨率，可識別受干擾的同位素光譜：  生成明確的元素光譜
3、無論是否存在干擾情況，也能獲得高精度的同位素比檢測
4、熱和冷等離子體狀態(tài)
5、高穩(wěn)定性的同位素比