詳細摘要： 離子研磨儀 IM4000II

詳細摘要： 牛津儀器X-MaxTEM大面積硅漂移探測器

詳細摘要： 超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU8600系列

詳細摘要： 超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8700

詳細摘要： 牛津儀器Ultim Extreme無窗超級能譜

詳細摘要： 牛津儀器Xplore能譜探測器

詳細摘要： 專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，...

詳細摘要： 以創(chuàng)新的操作性，滿足廣泛領域的需求。新一代TEM"RuliTEM"誕生。"RuliTEM"120 kV透射電子顯微鏡系列，包含配備高襯度透鏡，實現(xiàn)大視野、高對比...

詳細摘要： 200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能。通過單極片實現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。透射電...

詳細摘要： 該導航系統(tǒng)可以將CAD數(shù)據(jù)的布線和大規(guī)模集成電路的設計圖形和FIB的觀察圖像相對應起來。當CAD系統(tǒng)中的坐標位置，樣品臺就會通過鏈接移動到相應位置，就可以獲得相...

詳細摘要： 微型采樣方法(已在日本和美國取得zhuanli)已在半導體器件分析領域成為一款工具，它正迅速向更小制樣方向發(fā)展。僅用一小時左右即可獲得一個微小樣品，以便于STE...

詳細摘要： MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統(tǒng)：新型電子光學系統(tǒng)，可達到高水準的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率，使得高品質...

詳細摘要： 在設備及高性能納米材料的評價和分析領域，F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。近來，目標觀察物更趨微細化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。日立高新公司，整合了高...

詳細摘要： 通過自動重復使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構特定微區(qū)的三維結構。采用的鏡筒布局，從材料、設備到生物組織——在寬廣的領域范圍內(nèi)實...

詳細摘要： “Ethos"采用日立高新的核心技術--的高亮度冷場發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復合透鏡，不但可以在低加速電壓下實現(xiàn)高分辨觀察，還可以在FIB加工時實現(xiàn)實時觀察。S...

詳細摘要： AFM5500M是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數(shù)設置等環(huán)節(jié)上提供全自動操作平臺。新開發(fā)...

詳細摘要： AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進行測量。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度...

詳細摘要： AFM5100N除了激光檢測方式之外，全新的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。

詳細摘要： AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標用戶界面，標準配備參數(shù)自動設置功能(RealTune® II)，即使是剛剛接觸SPM的初學者或者遇到全新的樣品時，也...

詳細摘要： 納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800應用光干涉現(xiàn)象，對微細的表面形貌進行測量，可實現(xiàn)高性能薄膜、半導體、汽車零配件、顯示器等行業(yè)所要求的高精度測量。而且還能...