高低溫試驗箱 電芯環(huán)境測試箱 返回列表頁

高低溫試驗箱 電芯環(huán)境測試箱

控制系統(tǒng)

1. 采用智能可編程控制器（PLC）或微電腦控制器，具有自動調(diào)節(jié)、自診斷、自保護等功能。

2. 支持多種通訊接口，如 RS232、RS485、以太網(wǎng)等，方便與上位機進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊和遠(yuǎn)程監(jiān)控。

制冷系統(tǒng)

1. 高低溫試驗箱：采用進(jìn)口壓縮機（如法國泰康、德國比澤爾等），風(fēng)冷或水冷式制冷方式，確保高效制冷。

2. 電芯環(huán)境測試箱：根據(jù)具體需求，選用適合的制冷機組，確保在低溫環(huán)境下電芯的性能測試準(zhǔn)確可靠。

高低溫試驗箱 電芯環(huán)境測試箱

1. 溫度范圍：-70℃ 至 +150℃

2. 溫度波動度：±0.5℃

3. 溫度均勻度：±2℃

4. 升溫速率：1.0 至 5.0℃/min（可選）

5. 降溫速率：0.7 至 1.2℃/min（可選）

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1. GB/T10589-1989 低溫試驗箱技術(shù)條件
2. GB/T11158-1989 高溫試驗箱技術(shù)條件
3. GB/T10592-1989 高低溫試驗箱技術(shù)條件
4. GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗A規(guī)程: 低溫試驗方法
5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗B規(guī)程: 高溫試驗方法
6. GB/T2423.22-1987試驗Nb溫度變化試驗方法
7. GJB150.3-1986高溫試驗
8. GJB150.4-1986低溫試驗
9. IEC68-2-14 試驗N