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Zeta100電位納米粒度分子量分析儀

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  • Zeta100電位納米粒度分子量分析儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

一、產(chǎn)品介紹Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測(cè)量三個(gè)功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器

詳細(xì)介紹

一、產(chǎn)品介紹

        Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測(cè)量三個(gè)功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。

        Zeta電位測(cè)量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)而得到zeta>電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。納米粒度分布采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng),較小顆粒的移動(dòng)速度快于較大顆粒,在某個(gè)角度檢測(cè)記錄散射光強(qiáng),散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動(dòng)速度,利用這些信息可以計(jì)算顆粒的粒度分布。分子量測(cè)量采用靜態(tài)光散射(SLS)原理,散射光的強(qiáng)度與分子量直接相關(guān)。測(cè)量不同濃度中測(cè)量散射光強(qiáng),繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

二、主要技術(shù)指標(biāo)與性能

  • Zeta電位測(cè)試

測(cè)試范圍

-500mv ~ 500mv

粒度范圍

1nm-9500nm(與樣品有關(guān))

樣品池容積

400μl

測(cè)試原理

ELS(電泳光散射)

散射角

15 度

 濃度

 40% w/v

相關(guān)器

1000通道線性相關(guān)器

電導(dǎo)率范圍

200 mS/cm
  • 粒度分布測(cè)試

粒度測(cè)試范圍

1-9500nm(與樣品有關(guān))

測(cè)試原理

DLS( 動(dòng)態(tài)光散射)

重復(fù)性誤差

≤1%(國(guó)標(biāo)樣D50 偏差)

相關(guān)器

1000 個(gè)物理通道

準(zhǔn)確性誤差

≤1%(國(guó)標(biāo)樣D50 偏差)

光源

固體激光器

樣品池容積

1ml / 4ml

激光器波長(zhǎng)

671nm

樣品池溫控范圍

15℃—90℃

激光器功率

50mW

溫控精度

±0.2℃

散射角

90 度

  • 分子量測(cè)試 

分子量范圍

1000Da—2x107Da

準(zhǔn)確性誤差

≤ 10%

測(cè)試原理

SLS(靜態(tài)光散射)

重復(fù)性誤差

≤ 5%

三、主要應(yīng)用領(lǐng)域

        包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、藥物制備、水/ 油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調(diào)色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應(yīng)用等領(lǐng)域。

四、突出特點(diǎn)

  • BT-Zeta100電位測(cè)量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。

  • 納米粒度分布測(cè)量采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng),較小顆粒的移動(dòng)速度快于較大顆粒,在某個(gè)角度檢測(cè)記錄散射光強(qiáng),散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動(dòng)速度,利用這些信息可以計(jì)算顆粒的粒度分布。

  • 分子量測(cè)量采用靜態(tài)光散射(SLS)原理,散射光的強(qiáng)度與分子量直接相關(guān)。測(cè)量不同濃度中測(cè)量散射光強(qiáng),繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

五、良好的重復(fù)性

  • 穩(wěn)定的折疊光路系統(tǒng)

  • 高速數(shù)據(jù)采集與轉(zhuǎn)換模塊

  • 高精度樣品池定位組件

Zeta100電位納米粒度分子量分析儀(圖1)

Zeta100電位納米粒度分子量分析儀(圖2)

六、良好的準(zhǔn)確性

  • 粒度測(cè)試準(zhǔn)確性:用100nm 標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試,結(jié)果為101nm,誤差范圍為1%,遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO13321 允許誤差10% 的要求。

Zeta100電位納米粒度分子量分析儀(圖3)

  • Zeta 電位測(cè)試準(zhǔn)確性:用-55mv 標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試,結(jié)果為-59.7994mv,誤差范圍為8.7%,小于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO13099 允許誤差10% 的要求。

Zeta100電位納米粒度分子量分析儀(圖4)

  • 分子量測(cè)試

Zeta100電位納米粒度分子量分析儀(圖5)


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