北京飛凱曼科技有限公司

主營產(chǎn)品： 霍爾效應(yīng)測試儀，塞貝克熱電效應(yīng)測試儀，高低溫真空探針臺，少子壽命測試儀，深能級瞬態(tài)譜儀，普克爾盒驅(qū)動，非線性晶體，紅外晶體，光學(xué)元件

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SE-102橢偏儀
橢偏儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號 SE-102
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市

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更新時間：2017-08-11 10:12:32瀏覽次數(shù)：8785

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【簡單介紹】
北京飛凱曼公司提供光子晶體探測器型橢偏儀。這種光子晶體探測器型的是有日本PHL公司*，并應(yīng)用到的測試中。日本PHL公司在光子晶體的研究和制造領(lǐng)域*世界，由此開發(fā)出的光子晶體探測器型具有測試速度快、測量準(zhǔn)確、免維護(hù)、價格低廉等特點已經(jīng)在光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體薄膜、有機(jī)薄膜等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。該可快速準(zhǔn)確測量薄膜的厚度和折射率的分布。
【詳細(xì)說明】

北京飛凱曼公司提供光子晶體探測器型橢偏儀。這種光子晶體探測器型的橢偏儀是有日本PHL公司*，并應(yīng)用到的測試中。日本PHL公司在光子晶體的研究和制造領(lǐng)域世界，由此開發(fā)出的光子晶體探測器型具有測試速度快、測量準(zhǔn)確、免維護(hù)、價格低廉等特點已經(jīng)在光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體薄膜、有機(jī)薄膜等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。該可快速準(zhǔn)確測量薄膜的厚度和折射率的分布。

相比傳統(tǒng)的光譜型，光子晶體探測器型避免了探測器的機(jī)械運動。使得測試速度更快、測試更加準(zhǔn)確、成本更加低廉。

SE-101，SE-102型都是經(jīng)濟(jì)小巧的桌面式，SE-101主要用于薄膜的單點測量,SE-102則可進(jìn)行點、線和面的測量。該系列設(shè)備使用簡單，免維護(hù)，價格低廉，特別適合于實驗室和工藝線的在線膜厚檢測。

技術(shù)規(guī)格：

 

型號

SE-101

SE-102

重復(fù)性精度

0.1nm（厚度），0.001（折射率）

測量速度

0.05秒/點

光源

636nm半導(dǎo)體激光器

測量點尺寸

1mm2

點線測量：0.5mm2

面測量：0.1mm2

入射角

70度

樣品尺寸

4英寸

4英寸，1軸自動，2軸手動

儀器尺寸和重量

250x175x218.3mm/4Kg

300x235x218.3mm/9Kg

數(shù)據(jù)接口

RS-232C,千兆以太網(wǎng)

電源

AC100-240V（50/60Hz）

軟件

SE-View

 

詳細(xì)信息請咨詢我們。

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