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布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡

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布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡在不損失Dimension#174; Icon#174;超高的分辨率和的儀器性能前提下,Z大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新,從根本上解決了AFM成像速度慢的難題,大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶(hù)獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間。

詳細(xì)介紹

布魯克原子力顯微鏡詳細(xì)介紹:
布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡在不損失Dimension® Icon®超高的分辨率和的儀器性能前提下,zui大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新,從根本上解決了AFM成像速度慢的難題,大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶(hù)獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間。
布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡為提高AFM使用效率和檢測(cè)性能,Bruker開(kāi)發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng),不降低分辨率,不增加操作復(fù)雜性,不影響儀器使用成本的前提下,幫助用戶(hù)實(shí)現(xiàn)了利用Dimension快速掃描系統(tǒng),即快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。當(dāng)您對(duì)樣品進(jìn)行掃描時(shí),無(wú)論設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)為掃描速度 > 125Hz,還是在大氣下或者溶液中1秒獲得一張AFM圖像,都能得到優(yōu)異的高分辨圖像??焖賿呙柽@一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能。
■采用zui低熱漂移的針尖掃描AFM技術(shù),提高了系統(tǒng)的固有振動(dòng)頻率。

■應(yīng)用新的NanoScope控制器,為機(jī)器提供了更高的帶寬。
■開(kāi)發(fā)了小懸臂的生產(chǎn)工藝,在空氣中共振頻率為1.3MHz,在液體中共振頻率為250KHz到500KHz。
■采用了低噪音的機(jī)械和電子的主要部件,結(jié)合高共振頻率X-Y-Z掃描管,在技術(shù)上獲得了重大突破。
■更高的帶寬提供了精確的力控制和高掃描速度,結(jié)合高精度的閉環(huán)控制,在效率上遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其它任何商業(yè)化的AFM。
■以20Hz掃描速度進(jìn)行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高,即使使用更高的掃描速度>100Hz,圖像分辨率同樣不會(huì)降低。
■在ScanAsyst模式中,使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片,即使掃描速度達(dá)到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。
■Z方向,探針在Contact模式中移動(dòng)速度可達(dá)到12mm/s,同時(shí)在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動(dòng)速度達(dá)到2.5mm/s, X-Y方向的跟蹤誤差<1%,真正使Fastscan成為了世界上*臺(tái)快速掃描AFM。
■ 自動(dòng)的激光和檢測(cè)器的調(diào)節(jié)使得實(shí)驗(yàn)的組建更為快速有效。
■ 系統(tǒng)使用自帶的樣品導(dǎo)航軟件MIRO,利用光學(xué)成像系統(tǒng)能夠在幾分鐘之內(nèi)分辨并抓取納米級(jí)的樣品特征。
的光學(xué)系統(tǒng)可以使用任何Bruker的探針,在不降低系統(tǒng)穩(wěn)定性的前提下,得到的激光信號(hào)調(diào)節(jié)。
■ 針尖掃描系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與210mm大尺寸樣品臺(tái)結(jié)合,消除了樣品尺寸的限制,同時(shí)維持了zui低的噪音和熱漂移水平。

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