布魯克 MultiMode 8 高分辨掃描探針顯微鏡

布魯克 MultiMode 8 高分辨掃描探針顯微鏡系統(tǒng)的性能源于其緊湊堅固的機械設(shè)計與*的低噪音SPM控制電路。SPM系統(tǒng)性能的優(yōu)劣很大程度取決于樣品與探針之間的機械路徑長度，路徑越短受聲學和振動噪音的影響越小，同時受到熱漂移的影響也越小。另外SPM各功能部件組裝穩(wěn)定性也會影響儀器性能。
布魯克 MultiMode 8 高分辨掃描探針顯微鏡對儀器細節(jié)的考量和技術(shù)的不斷革新，提升了 Multimode系列儀器性能。SPM控制器是保證系統(tǒng)高性能的另一個關(guān)鍵因素，第五代NanoScope V控制器具有*的數(shù)字架構(gòu)：高數(shù)據(jù)帶寬，低噪聲數(shù)據(jù)采集和的數(shù)據(jù)處理能力，布魯克采用*技術(shù)， ScanAsyst模式 & PeakForce QNM模式，幫助研究者在各研究領(lǐng)域取得更多研究成果。 
ScanAsyst自動成像軟件，適用于大氣和溶液各種掃描條件. ScanAsyst采用智能計算方法，連續(xù)監(jiān)控圖像質(zhì)量，根據(jù)反饋做出適當?shù)膮?shù)調(diào)整，系統(tǒng)自動化而完成這一系列工作，為用戶提供更快捷優(yōu)異的測量結(jié)果，也大大降低了對操作者的技術(shù)要求。全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比，在其速度提高6倍時仍不損失圖像分辨率，獲得超高分辨的AFM圖像。
PeakForceQNM, Bruker*的納米尺度機械性能的定量測量，提供更加準確的材料彈性模量和粘附性的測量結(jié)果，同時也有利于保持樣品和針尖的完整性。
高分辨成像的業(yè)界*,的應(yīng)用靈活性，高水平論文的發(fā)表

- zui高分辨率成像和定量的材料性能成像。
- 提供多模塊強大功能的MultiMode
- 世界上發(fā)表論文zui多的AFM
- 由創(chuàng)新的峰值力模式實現(xiàn)