詳細(xì)摘要： IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀測試方法符合GB/T29332-2012/IEC 60747-9: 200 及GB4023-83 等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。采用計算機(jī)記錄測試結(jié)果，并轉(zhuǎn)...

詳細(xì)摘要： 華科智源大功率IGBT測試系統(tǒng)設(shè)備主要針對IGBT及MOS管的測試儀，適用于芯片設(shè)計，產(chǎn)線封裝測試及新能源汽車，風(fēng)力發(fā)電，地鐵交通等領(lǐng)域的大功率器件及模塊測試，...

詳細(xì)摘要： 華科智源大功率IGBT測試系統(tǒng)設(shè)備主要針對IGBT及MOS管的測試儀，適用于芯片設(shè)計，產(chǎn)線封裝測試及新能源汽車，風(fēng)力發(fā)電，地鐵交通等領(lǐng)域的大功率器件及模塊測試，...

詳細(xì)摘要： 華科智源專業(yè)提供IGBT測試系統(tǒng)，IGBT動態(tài)參數(shù)測試儀，IGBT模塊測試系統(tǒng)，提供IGBT單管及模塊的動靜態(tài)測試儀，雪崩能量測試儀。該設(shè)備用于功率半導(dǎo)體模塊（...