詳細(xì)摘要： 描述：低溫試驗(yàn)箱適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在低溫環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變試驗(yàn)。還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。

詳細(xì)摘要： 描述：低溫冷凍試驗(yàn)箱適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在低溫環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變試驗(yàn)。還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)...

詳細(xì)摘要： 描述：低溫冷凍試驗(yàn)箱零下40度適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在低溫環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變試驗(yàn)。還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)...

詳細(xì)摘要： 描述：低溫冷凍箱適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在低溫環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變試驗(yàn)。還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。

詳細(xì)摘要： 描述：低溫試驗(yàn)箱適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在低溫環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變試驗(yàn)。還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。

詳細(xì)摘要： 描述：多功能冷凍試驗(yàn)箱產(chǎn)品適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在低溫環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變試驗(yàn)。還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩...

詳細(xì)摘要： 描述：冷凍試驗(yàn)箱產(chǎn)品適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在低溫環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變試驗(yàn)。還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)...

詳細(xì)摘要： 描述：低溫冷凍試驗(yàn)箱產(chǎn)品適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在低溫環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變試驗(yàn)。還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選...