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NanoCala光學(xué)薄膜厚度測量系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： 利用分光光譜反射儀來精確地測量光學(xué)或非光學(xué)薄膜厚度，可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、醫(yī)療和工業(yè)生產(chǎn)中 ！品牌：Ocean Optics型號：NanoCalc
產(chǎn)品型號：NanoCalc 所在地： 更新時間：2021-05-14 參考價： 面議 在線留言
| 杭州譜鐳光電技術(shù)有限公司 |
詳細(xì)摘要： 利用分光光譜反射儀來精確地測量光學(xué)或非光學(xué)薄膜厚度，可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、醫(yī)療和工業(yè)生產(chǎn)中 ！品牌：Ocean Optics型號：NanoCalc
產(chǎn)品型號：NanoCalc 所在地： 更新時間：2021-05-14 參考價： 面議 在線留言