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博勢(shì)Proceq Flaw Detector 100 PA 16:16 探傷儀

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更新時(shí)間:2021-07-10 14:06:51瀏覽次數(shù):375

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升級(jí)至 Proceq 探傷儀 100 PA 16:16 將適用于廣泛的應(yīng)用,可借助內(nèi)置向?qū)Ш陀脩糁改线M(jìn)行設(shè)置、執(zhí)行和分析。針對(duì)想要了解相控陣或顯示區(qū)段掃描的用戶。

詳細(xì)介紹

優(yōu)點(diǎn)

使用相控陣的功能,進(jìn)行高性能的傳統(tǒng)便攜式缺陷檢測(cè)
A、B、C、True Top 和 End Scan 成像功能涵蓋了許多應(yīng)用   
3D Scan 計(jì)劃有助于顯示組件中的相控陣波束覆蓋。
配置:16:16 通道
增益范圍:UT/TOFD:100 dB (按 0.1 dB 增量遞增) PA:76 dB (按 0.1 dB 增量遞增)
測(cè)量值:路徑長(zhǎng)度,深度,表面距離,DAC,AWS,DGS

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