詳細摘要： IB-09060CIS　低溫冷凍離子切片儀，易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。

詳細摘要： JSM-7200F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，應用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術，標配了TTLS系統(tǒng)（Through...

詳細摘要： 日本JEOL JSM-IT500 掃描電子顯微鏡，是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)...

詳細摘要： JED-2300/2300F 能譜儀，是以圖像觀察和分析 為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。通過與SEM的馬達驅動樣品臺聯(lián)動使用，可以進行大范圍的觀察和分析。...

詳細摘要： Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡，肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針，與3View2XP（...

詳細摘要： JSM-7900F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，它繼承了上一代廣獲好評的性能如*的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時，操作性能極大簡單化。該設備不依賴操作者的技...

詳細摘要： 日本JEOL JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡，采用了新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，因而能獲得令人驚嘆的高畫質圖像。即使對實時圖像，也能輕松地在CCD圖...

詳細摘要： JSM-7610FPlus 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，實現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升，采用半浸沒式物鏡和High Power O...

詳細摘要： JSM-IT200 InTouchScope 掃描電子顯微鏡，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。

詳細摘要： JCM-7000 NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡，是以誰都可以操作的SEM/EDS為理念的臺式掃描電子顯微鏡， 標配Zeromag、Live analys...

詳細摘要： 日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡，實現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，...

詳細摘要： JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系...

詳細摘要： 日本電子JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統(tǒng)，還增加了的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JE...

詳細摘要： JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內置式型能量過濾器，能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。

詳細摘要： 日本電子JEOL EM-05500TGP TEM斷層掃描系統(tǒng)，采用*算法的軟件，實現(xiàn)了從獲取連續(xù)傾斜圖像到三維重構整個過程的自動化。

詳細摘要： JED-2300T能譜儀是以圖像觀察和分析為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。在分析數(shù)據(jù)過程中，自動采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參數(shù)，進行數(shù)據(jù)管理。

詳細摘要： 半導體測試探針臺：KUP007，EMP100C，EMP100B，EMP50S

詳細摘要： 美國 MMR 霍爾效應測量系統(tǒng) H5000，霍爾效應測量系統(tǒng)主要用于研究光電材料的電學特性，利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電...

詳細摘要： 韓國Ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)HMS3000，HMS5000，主要用于研究半導體材料/光電材料的電學特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、...

詳細摘要： TEK Keithley 4200A-SCS 泰克半導體參數(shù)分析儀，可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌...