詳細摘要： Bruker FTIR 傅氏轉換紅外光譜分析系統(tǒng)-利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉換進而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。

詳細摘要： 英國MML（微）納米材料力學性能綜合測試系統(tǒng) NanoTest Vantage, 可以完成微納米尺度上材料力學性能測試和表征，用于產(chǎn)品的研究和開發(fā)?？梢杂糜诨炷?..

詳細摘要： 日本理學 XRD 智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab，是當今世界性能的多功能的 X 射線衍射儀，它采用了理學的 CBO 交叉光學系統(tǒng)、自動識別所有光學組...

詳細摘要： Nano Indenter G200Nano Indenter G200系統(tǒng)專為各種材料的表征和開發(fā)過程中進行納米級測量而設計。 該系統(tǒng)是一個*可升級，可擴展且...

詳細摘要： Thermo Scientific Helios 5 D ualBeam 產(chǎn)品系列憑借其的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動化和易用性特征，重新定義了樣品制...

詳細摘要： Rigaku日本理學臺式 XRDX 射線衍射儀 Miniflex 600，外型小巧方便，具有近于分析儀器的測試性能，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域，是...

詳細摘要： 日本Rigaku 智能多功能X射線衍射儀 Smartlab SE, 高自動化、多功能衍射儀, 精于形，智于心,易用、智能的全功能X射線衍射儀

詳細摘要： JSM-IT800SHL 是日本電子株式會社（JEOL） 2020 年推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 JEOL 熱場發(fā)射掃描電鏡 JSM-7900F 的大束流，高...

詳細摘要： BRUKERHysitron TI 980 TriboIndenter 加速納米力學研究進入更高階段,同時具有的性能、靈活性、可信度、實用性和速度?；诤Ｋ紕?chuàng)幾...

詳細摘要： 美Sonix 超聲波掃描顯微鏡 ECHO-VS，是專為更高精度要求，更復雜元器件設計的新一代設備， 掃描分辨率小于1微米

詳細摘要： 美 Sonix 全自動超聲波掃描顯微鏡ECHO Pro , 批量 Tray盤和框架直接掃瞄, 編程自動判別缺陷, 高產(chǎn)量,無需人員重復設置, 自動烘干.

詳細摘要： 美Sonix超聲波掃描顯微鏡 ECHO LS,可檢測最小 0.05 微米的缺陷，它是一款的檢測 bump, 堆疊芯片(三維封裝)，復雜 flipchip 和傳統(tǒng)...

詳細摘要： 美SonixAutoWaferPro晶圓檢測設備，專為全自動晶圓檢測設計的機型，使用于 200 和 300MM晶圓。

詳細摘要： 布魯克Bruker白光干涉光學輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測量需要

詳細摘要： JSM-7610FPlus，用于納米科學的肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡， 是一款采用半浸沒式物鏡、擁有超高分辨率的場發(fā)射掃描電子顯微鏡，能觀察微細結構和進行微區(qū)元...

詳細摘要： ContourX-200 三維光學輪廓儀，靈活的臺式表面形貌測量設備

詳細摘要： sinton少子壽命測試儀WCT-120+Suns-Voc，硅片少子壽命測試系統(tǒng)，采用了*的測量和分析技術，包括準穩(wěn)定態(tài)光電導(QSSPC)測量方法。可靈敏地反...

詳細摘要： JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀,JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效...

詳細摘要： ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡-EVO 10,具備自動化工作流程的高清晰掃描電鏡，提高樣品的成像分辨率，提供更多表面細節(jié)信息，EVO 電鏡廣泛應用于材料和生命...

詳細摘要： 德國neaspec 納米傅里葉紅外光譜儀nano-FTIR：具有10nm空間分辨率的納米級紅外光譜儀，散射型近場光學技術發(fā)展出來的nano-FTIR納米傅里葉紅...