制藥網(wǎng)>產(chǎn)品庫>儀器儀表>光學(xué)分析儀器>電子顯微鏡>>蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡

蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡

參考價	面議

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱上海禹重實業(yè)有限公司
品牌
型號
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時間2021/8/1 14:52:37
訪問次數(shù)1066

產(chǎn)品標簽:

在線詢價收藏產(chǎn)品查看電話同類產(chǎn)品

聯(lián)系我們時請說明是制藥網(wǎng) 上看到的信息，謝謝!

索取相關(guān)資料

公司介紹主營產(chǎn)品

上海禹重實業(yè)有限公司（以下簡稱禹重科技®）是一家以服務(wù)introduce中國市場為主的進口儀器貿(mào)易和檢測技術(shù)服務(wù)公司，下設(shè)三個事業(yè)部和一個中心，即分析儀器事業(yè)部、實驗室服務(wù)事業(yè)部、項目開發(fā)部、以及中禹聯(lián)重檢測技術(shù)中心。目前除上?？偛客猓覀円呀⒈本?、沈陽、太原、長沙、廣州、青島和成都等分支機構(gòu)。為客戶提供更專業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們禹重科技®的目標。

禹重科技®作為Thermo Science（賽默飛）、DIONEX（戴安）、Gilson（吉爾森）和Tekmar（泰克瑪）等品牌的核心代理商，依托（香港）亞測科技有限公司（Amicrotest Technology Limited），我們將分析測試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國內(nèi)客戶，為眾多企業(yè)和高校、科研院所以及政府機構(gòu)的產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制、合規(guī)運營，提供成分分析儀器、表面分析儀器、自動化樣品前處理儀器和物理力學(xué)儀器等綜合性儀器解決方案，同時提供儀器配套設(shè)備和標準樣品耗材的銷售，材料測試等實驗室服務(wù)。

展開顯示更多內(nèi)容

成分分析儀，表面分析儀，光譜儀

產(chǎn)品簡介在線詢價

蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動化的5軸樣品臺和大的X、Y、Z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢測模式使得EVO MA 15能夠廣泛適用于各類樣品的檢測工作，EVO MA 15作為一款研究級掃描電鏡能夠為您提供Z*的視覺圖像和Z廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。

蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡產(chǎn)品信息

蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動化的5軸樣品臺和大的X、Y、Z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢測模式使得EVO MA 15能夠廣泛適用于各類樣品的檢測工作，EVO MA 15作為一款研究級掃描電鏡能夠為您提供zui*的視覺圖像和zui廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。
蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡【技術(shù)參數(shù)】
分辨率：3.0nm@ 30KV(SE and W) 4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
加速電壓：0.2—30KV
放大倍數(shù)：5—1000000x
探針電流：0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離：8.5mm 35度接收角
壓力范圍：10—400Pa (LS15:環(huán)掃模式10-3000Pa)
工作室：365mm(φ)×275mm(h)
5軸優(yōu)中心自動樣品臺：X=125mm Y=125mm Z=50mm T=-10°- 90°°R=360°
zui大試樣高度：145mm，zui大試樣直徑：250mm
系統(tǒng)控制：基于Windows 7 的SmartSEM操作系統(tǒng)
【主要特點】
能在可變壓力下操作
*X射線和EBSD分析
可移動大平臺
快抽真空
未來的保證，可升級在高壓和水蒸氣下成像和分析
高亮度LaB6資源選擇
光線套選擇
掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。