掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II
lexSEM 1000 II,憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測(cè)器,可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開(kāi)發(fā)的用戶(hù)界面,具有亮度和對(duì)焦自動(dòng)調(diào)節(jié)功能,可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。此外,還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP”,這個(gè)功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點(diǎn),實(shí)現(xiàn)最直觀的視野移動(dòng)。
· 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡,仍可實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率
· 憑借*的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測(cè)器、低真空檢測(cè)器(UVD*2),可在低加速/低真空下觀察時(shí)實(shí)現(xiàn)最高的畫(huà)質(zhì)
· 全新的用戶(hù)界面,無(wú)論用戶(hù)的熟練程度如何,都可實(shí)現(xiàn)高畫(huà)質(zhì)和高處理能力
· 全新的定位功能“SEM MAP”,支持觀察時(shí)的視野搜索和樣品定位
· 大直徑(30毫米2)無(wú)氮EDS檢測(cè)器,可快速進(jìn)行元素分析*2
掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II
項(xiàng)目 | 內(nèi)容 |
分辨率*3 | 4.0 nm(二次電子像、加速電壓:20 kV、高真空模式) |
加速電壓 | 0.3 kV~20 kV |
倍率 | ×6~×300,000 (照片倍率) |
低真空設(shè)置 | 6~100 Pa |
電子槍 | 集中燈箱(Pre-Centered Cartridge Filament) |
樣品臺(tái) | 3軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái) |
最大樣品尺寸 | 直徑80 mm(選配:直徑153mm) |
最大樣品高度 | 40 mm |
尺寸 | 機(jī)體:450(寬度)×640(進(jìn)深)×690(高度) mm |
選項(xiàng) | · 高敏感度低真空檢測(cè)器(UVD2.0) · 能量色散型X射線檢測(cè)器(EDS) |
軟件 | Multi Zigzag(連續(xù)視野圖像導(dǎo)入功能) |