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日本電子場發(fā)射掃描電鏡JSM-7200F

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱上海百賀儀器科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
  • 更新時間2024/5/10 7:51:57
  • 訪問次數(shù)253
產(chǎn)品標簽:

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上海百賀儀器科技有限公司由上海佰衡儀器科技有限公司組建而來。多年來佰衡儀器精心研發(fā)制造各種試驗機、試驗箱及非標準設(shè)備,服務(wù)于全國各大企業(yè)院所,是一家技術(shù)型的生產(chǎn)廠家。為了更好服務(wù)客戶,滿足用戶一站式的采購需求,上海百賀儀器順勢而生,并與國內(nèi)外多家優(yōu)秀儀器供應(yīng)商*保持良好穩(wěn)定的合作關(guān)系,能夠在產(chǎn)品價格、技術(shù)服務(wù)、儀器維修、配件供給、軟件升級等方面得到更多的支持,讓客戶獲取更多的增值服務(wù)。
       上海百賀儀器科技有限公司秉承‘佰衡儀器’的經(jīng)營理念,一直致力于提升中國實驗室檢測水平,作為專業(yè)化的儀器公司,我們能為您提供更全面、更優(yōu)質(zhì)、更專業(yè)的實驗室解決方案。百賀儀器的產(chǎn)品及服務(wù)涉及金屬、橡膠、塑料、石油、建筑材料、汽車、電子、電工、家電、醫(yī)療、包裝印刷等諸多領(lǐng)域,享譽八方。

百賀儀器堅持“客戶*,服務(wù)*”的服務(wù)理念,崇尚“誠信、奉獻、共贏”的企業(yè)價值觀,勵精圖治,開拓進取。公司由一支充滿活力的高素質(zhì)開拓型團隊組成,技術(shù)過硬,經(jīng)驗豐富,可以滿足不同客戶的需求,為客戶提供周到、熱情、滿意的服務(wù)。不論是售前還是售后服務(wù),百賀儀器都力求嚴謹、及時、全面;換位思考,仔細傾聽,做客戶忠實的顧問式伙伴。

 

百賀儀器的承諾:*的品質(zhì),專業(yè)的服務(wù)。

百賀儀器的目標:您Z貼心的實驗儀器供應(yīng)商。

 


 

拉力試驗機,顯微鏡,硬度計
日本電子場發(fā)射掃描電鏡JSM-7200F
日本電子場發(fā)射掃描電鏡JSM-7200F 產(chǎn)品信息

產(chǎn)品參數(shù)

產(chǎn)品編號: 日本電子場發(fā)射掃描電鏡JSM-7200F所屬品牌: 日本電子
產(chǎn)品型號: JSM-7200F 額定功率:按實際方案提供
所屬類別: 掃描電鏡所屬用途: 顯微觀察
應(yīng)用領(lǐng)域: 所有工業(yè)領(lǐng)域
產(chǎn)品特性: JSM-7200F的電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù),標配TTLS系統(tǒng)(Through-The-Lens System),無論是在高/低加速電壓下,空間分辨率都比傳統(tǒng)機型有了很大的提升。此外,保證300nA的束流,能兼顧高分辨率觀察和高通量分析,具有充實的自動功能和易用性,是多功能場發(fā)射掃描電鏡。
下載相關(guān)資料

日本電子場發(fā)射掃描電鏡JSM-7200F

特點

JSM-7200F的主要特點有:應(yīng)用了浸沒式肖特基電子槍技術(shù)的電學(xué)系統(tǒng);

利用GB(Gentle Beam 模式)和各種檢測器在低加速電壓下能高分辨觀

察和選擇信號的TTLS系統(tǒng)(Through-The-Lens System);電疊加的混

合式物鏡。

浸沒式肖特基電子槍

浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍為日本電子的技術(shù),通過對電子槍和低像差聚光鏡進行優(yōu)化,能有效利用從電子槍中發(fā)射的電子,即使電子束流很大也能獲得很細的束斑。因而可以實現(xiàn)高通量分析(EDS、WDS面分析、EBSD分析等)。

TTLS(through-the-lens系統(tǒng))

TTLS(through-the-lens系統(tǒng))是利用GB(Gentle Beam 模式)在低加速電壓下能進行高

分辨率觀察和信號選擇的系統(tǒng)。 利用GB(Gentle Beam 模式)通過給樣品加以偏壓,對入

射電子有減速、對樣品中發(fā)射出的電子有加速作用,即使在低加速電壓(入射電壓)下,也

能獲得信噪比良好的高分辨率圖像。

此外,利用安裝在TTLS的能量過濾器過濾電壓,可以調(diào)節(jié)二次電子的檢測量。這樣在極低加

速電壓的條件下,用高位檢測器(UED)就可以只獲取來自樣品淺表面的大角度背散射電子。

因過濾電壓用UED沒有檢測出的低能量電子,可以用高位二次電子檢測器(USD,選配件)檢

測出來,因此JSM-7200F能同時獲取二次電子像和背散射電子像。

混合式物鏡(電磁場疊加)

JSM-7200F的物鏡采用了日本電子新開發(fā)的混合式透鏡。

這種混合式透鏡是組合了磁透鏡和靜電透鏡的電磁場疊加型物鏡,比傳統(tǒng)的out-lens像差小,能獲得更高的空間分辨率。 JSM-7200F仍然保持了out-lens的易用性,所以可以觀察和分析磁性材料樣品。

關(guān)鍵詞:過濾器
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