2021-07-20 20:27:42337
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 產(chǎn)品型號:
- 廠商性質(zhì):其他
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在線詢價圖片描述：
KSIi-Wafer晶圓缺陷檢測系統(tǒng)，是一款儀器，操作人員可選擇接收/拒絕標準，手動或自動檢測晶圓。在KSIi-Wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
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