詳細(xì)摘要： 操作簡(jiǎn)單且直觀。*:和TM4000Plus搭配應(yīng)用實(shí)例*:探測(cè)器內(nèi)置型(制造商: 德國(guó)Bruker nano GmbH)

詳細(xì)摘要： 圖標(biāo)按操作流程順序排列，操作簡(jiǎn)便。通過(guò)對(duì)應(yīng)譜圖可簡(jiǎn)單確認(rèn)元素重疊狀況。通過(guò)TruMap功能分離出譜峰重疊元素并準(zhǔn)確顯示(AZtecOne)。

詳細(xì)摘要： 臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級(jí)。我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念，開(kāi)發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上，我們又推出功能更為多樣的TM4000...