詳細(xì)摘要： 該設(shè)備主要用于常和彈殼，它允許兩個(gè)樣品并排安裝，以便進(jìn)行詳細(xì)的比較。每個(gè)樣品可以獨(dú)立旋轉(zhuǎn)360度，并調(diào)整其相對(duì)高度。

詳細(xì)摘要： 英國(guó)Deben出品的PCD型束閘是設(shè)計(jì)用來(lái)為JEOL和Hitachi的FEG場(chǎng)發(fā)射、LaB6六硼化鑭和鎢燈絲掃描電鏡提供電子束的消隱（阻斷、開(kāi)關(guān)）、脈沖或其他調(diào)...

詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體制冷冷臺(tái)

詳細(xì)摘要： 英國(guó)Deben 出品的視頻腔室觀(guān)察鏡可用于所有掃描電鏡，安裝在電鏡腔室任意端口的空法蘭上或腔室門(mén)上。作為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)組合，腔室觀(guān)察鏡帶有獨(dú)立的電源裝置并包含照明控制...

詳細(xì)摘要： Deben可以提供一系列不同臺(tái)子用于雙軸和四軸拉伸試驗(yàn)。無(wú)論您有什么樣的需求，Deben都有一個(gè)適合您應(yīng)用的解決方案，我們有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)2kN的臺(tái)子，并可以定制從5...

詳細(xì)摘要： EBIC掃描電鏡電子束感生電流放大器及成像系統(tǒng)

詳細(xì)摘要： STEM掃描透射探測(cè)器、BSE背散射探測(cè)器、CL陰極熒光探測(cè)器

詳細(xì)摘要： MICROTEST三點(diǎn)彎曲和拉伸/壓縮模塊專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于在掃描電鏡或光學(xué)顯微鏡下觀(guān)察樣品的高應(yīng)力區(qū)。

詳細(xì)摘要： 雙絲桿工作臺(tái)的設(shè)計(jì)允許透射和反射照明兩種，可安裝在光學(xué)顯微鏡、X射線(xiàn)衍射系統(tǒng)或同步加速器上。

詳細(xì)摘要： 2kN和5kN拉伸臺(tái)測(cè)試模塊為特殊設(shè)計(jì)，可以用SEM、光學(xué)顯微鏡、AFM或XRD系統(tǒng)實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品的高應(yīng)力區(qū)域。Windows 7.0/10軟件設(shè)置驅(qū)動(dòng)器參數(shù)，并...

詳細(xì)摘要： 用于μXCT斷層成像系統(tǒng)的DEBEN帕爾貼冷熱臺(tái)允許在冷凍條件下對(duì)樣品進(jìn)行成像，雙層聚苯乙烯（可選碳）窗可防止結(jié)冰，并可將樣品快速冷卻至-20°C

詳細(xì)摘要： Deben最近開(kāi)發(fā)了一種新的2KN拉伸臺(tái)，可選擇加熱至600°C的加熱裝置，專(zhuān)門(mén)用于裝有EBSD探測(cè)器的掃描電鏡內(nèi)。該臺(tái)有雙樣品夾具，允許樣品在0°和70°下觀(guān)...

詳細(xì)摘要： CT20K，全開(kāi)放式框架，拉伸、壓縮和扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)臺(tái)，專(zhuān)為同步加速器和基于房間的X射線(xiàn)CT成像系統(tǒng)設(shè)計(jì)

詳細(xì)摘要： CT500原位測(cè)試臺(tái)用途廣泛，適應(yīng)性強(qiáng)，重量小于1.0kg，適用于安裝在見(jiàn)的中程μXCT系統(tǒng)（如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和GE...

詳細(xì)摘要： CT5000原位測(cè)試臺(tái)用途廣泛，適應(yīng)性強(qiáng)，重量小于6.0kg，適用于安裝在見(jiàn)的中程μXCT系統(tǒng)，如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和G...

詳細(xì)摘要： 200N原位拉伸臺(tái)MICROTEST200N模塊經(jīng)過(guò)特別設(shè)計(jì)，可以通過(guò)掃描電鏡、光學(xué)顯微鏡、原子力顯微鏡或XRD系統(tǒng)實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品的高應(yīng)力區(qū)。