TIMA-X泰思肯集成礦物分析儀
TESCAN集成式礦物分析儀(TIMA)是一款新型的自動(dòng)礦物分析的掃描電子顯微鏡,適用于采礦和礦物加工行業(yè)。TIMA可以對(duì)塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動(dòng)礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
TIMA的應(yīng)用范圍很寬,包括礦石性質(zhì)、工藝優(yōu)化、修復(fù)、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的*技術(shù)是基于一個(gè)*集成的EDX系統(tǒng)執(zhí)行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術(shù)提供了*的數(shù)據(jù)采集速度,進(jìn)而得到快速、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果。
TIMA硬件
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場(chǎng)發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設(shè)計(jì)(電子槍的恒真空與隔絕閥)提高了發(fā)射的穩(wěn)定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統(tǒng)提供高真空模式為標(biāo)準(zhǔn),低真空模式為選配。
大樣品室、由計(jì)算機(jī)控制的超快樣品臺(tái)、礦物樣品支持器的特殊設(shè)計(jì)。樣品臺(tái)可以同時(shí)容納7塊直徑大為30mm的樣品。樣品臺(tái)內(nèi)可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺(tái)有EDX/BSE校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)、鉑Faraday筒(BSE信號(hào)校準(zhǔn))與錳、 銅、 石英、碳和金元素(系統(tǒng)性能檢查)。標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的元素可以根據(jù)客戶要求定制。
軟件標(biāo)配:
l 分析&測(cè)量
l 柱狀圖
l 圖像處理
l 3維掃描
l 硬度測(cè)量
l 多圖像校準(zhǔn)
l 對(duì)象區(qū)域
l 定時(shí)關(guān)機(jī)
l 公差測(cè)量
l 定位
l Live Video
l EasySEMTM
TIMA-X泰思肯集成礦物分析儀軟件選配:
根據(jù)實(shí)際配置和要求
配件:
二次電子探頭
背散射電子探頭
探針電流測(cè)量
壓差式防碰撞報(bào)警裝置
可觀察樣品室內(nèi)部的紅外線攝像頭等,各種配件可供選擇