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TESCAN MAIA3 LM超高分辨場發(fā)射掃描電鏡

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公司名稱泰思肯貿易（上海）有限公司
品牌其他品牌
型號
所在地上海市
廠商性質其他
更新時間2018/12/6 10:02:03
訪問次數2984

產品標簽:

場發(fā)射掃描電鏡場發(fā)射掃描電鏡價格場發(fā)射掃描電鏡廠家

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TESCAN是一家專注于微觀形貌、結構和成分分析的科學儀器的跨國公司，是的電子顯微儀器制造商，總部位于大的電鏡制造基地-捷克布爾諾，且已建立起的銷售和服務網絡，在捷克、法國和美國擁有4家研發(fā)中心、2個生產基地以及6家海外子公司，已有超過60年的電子顯微鏡研發(fā)和制造歷史。其產品主要有電子顯微鏡、聚焦離子束系統(tǒng)、多通道全息顯微鏡及相關分析附件和軟件，正被廣泛應用于醫(yī)學、生物、生化、農業(yè)、材料科學、冶金、化學、石油、制藥、半導體和電子器件等領域中。

作為科學儀器的供應商之一，TESCAN正為其在設計、研發(fā)和制造掃描電子顯微鏡及掃描電子顯微鏡在不同領域的應用方面樹立良好的聲譽和品牌。目前TESCAN的產品和解決方案已經在微納米技術領域取得了一定地位，掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用技術、聚焦離子束與飛行時間質譜儀聯(lián)用技術以及氙等離子聚焦離子束技術，也是行業(yè)領域的技術*。TESCAN憑借優(yōu)異的性能贏得*越來越多的用戶認可，目前生產的各系列電鏡在世界范圍內受到廣泛的好評。從2000年至今已有2500多臺電鏡積極地服務于客戶。

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掃描電鏡，熒光顯微鏡，電鏡耗材

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產地	國產	產品新舊	全新

TESCAN MAIA3 LM超高分辨場發(fā)射掃描電鏡是一款具有超高表面靈敏度的高分辨掃描電子顯微鏡，在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。MAIA3 model 2016在低電壓下也有*的性能，尤其對電子束敏感的半導體器件樣品以及納米材料等都具有優(yōu)異的表面靈敏度及高空間分辨率。

TESCAN MAIA3 LM超高分辨場發(fā)射掃描電鏡產品信息

TESCAN MAIA3 LM超高分辨場發(fā)射掃描電鏡

MAIA3 model 2016

為超高分辨新開發(fā)的電子光學系統(tǒng)

MAIA3 model 2016產品是一款具有超高表面靈敏度的高分辨掃描電子顯微鏡，在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。MAIA3 model 2016在低電壓下也有*的性能，尤其對電子束敏感的半導體器件樣品以及納米材料等都具有優(yōu)異的表面靈敏度及高空間分辨率。全新的MAIA3也非常適合研究不導電試樣如原始狀態(tài)的生物樣品。

TESCAN MAIA3 LM超高分辨場發(fā)射掃描電鏡主要特點：

TriglavTM——新開發(fā)的超高分辨電子光學鏡筒并配備TriLensTM物鏡及*的探測系統(tǒng)

超高分辨率物鏡（60度浸沒式物鏡），全新的用于高分辨率分析工作的無漏磁分析物鏡，重新設計用于超大視場觀察的中間鏡。

*的電子束無交叉模式與超高分辨率物鏡相結合，獲得了的成像性能

傳統(tǒng)的TESCAN大視野光路設計提供各種工作和顯示模式

全新的EquiPower™技術進一步提高電子束的穩(wěn)定性

新的肖特基場發(fā)射電子槍能使電子束流高達400nA并能實現電子束能量的快速改變

通過擴展樣品室和支架能達到12”晶圓的SEM觀察

TriBETM技術具有三個BSE探測器，可以選擇不同角度的信號進行采集。位于鏡筒內部的Mid-Ange BSE和In-Beam LE-BSE探測器，用于檢測中等角度及軸向的高角背散射電子，而樣品室的BSE探測器用于探測大角度范圍的背散射電子。并且這三個探測器能探測到低于200eV的低能背散射信號，綜合在一起，他們可以提供各種不同襯度的圖像

TriSETM技術具有三個SE探測器，對所有工作模式下采集二次電子信號都進行了優(yōu)化。位于鏡筒內部的In-Beam SE探測器能在短工作距離下采集二次電子。用于電子束減速模式下的SE(BDM)探測器用于超高分辨成像。In-Chamber SE探測器能提供的形貌襯度

電子束減速技術(BDT)能在低至50eV的低電壓下，也仍具有出色的分辨率（選配）

電子束實時追蹤技術可對電子束實現實時優(yōu)化

擴展的低真空模式樣品室氣壓能達到500Pa，可用于不導電樣品的成像

超高分辨率 0.7@15keV，1.0nm@1keV

浸沒式物鏡系統(tǒng)和無交叉電子束模式結合在一起，可在低能量下實現超高分辨成像。浸沒式物鏡能在樣品周圍產生強磁場，顯著降低了像差。而無交叉電子束模式則降低了Boersch效應，對電子束進行進一步的優(yōu)化，終達到1.0nm @1keV的超高分辨率。

關鍵詞：電子顯微鏡